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GWB-200JA型引伸計標定儀 引伸計檢定
產品簡介:GWB-200JA型引伸計標定儀,是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG 762-2007引伸計檢定規程要求,專門用于對各類引伸計的標定,也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。
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結構特(te)點(dian)及讀數(shu)方式(shi):
        1. 本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合,同時配有加長立柱附件,配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣,可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要,配置專用配件進行精密微變形量計量。

        2. 精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內筒、讀數外筒及高精密螺(luo)紋副組(zu)成。其最大量程25㎜;最小分度(游標分度)0.0002㎜;旋(xuan)轉(zhuan)外筒分度0.002㎜。

位移變化(hua)讀數為(wei):

L=(a+0.001b+0.0001c)-(a0+0.001b0+0.001c0)

其中: a0 b0 c0為相應位(wei)移變化前讀數

a-內筒毫米刻線讀數

b-外筒刻線讀(du)數

c-游標刻線(xian)讀數

使用說明(ming):
        請依據JJG  762-2007引(yin)伸計檢定規(gui)程(cheng)要求,進行引(yin)伸計的(de)檢定:
        1、根據被檢引伸計的規格型號及測試的試樣規格,選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。
        2、調整兩測量支臂的位置,獲得適宜的檢定空間;調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸;調整測微頭與下底座的距離,以保證測微頭的有效行程。一切調整好后注意旋緊各個所需固緊部位,在檢定過程中除準許運動位移的部分外,都不準許有任何滑動或松動。
        3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試:
        1)檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的技術參數決定。例如,使用50㎜標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術數據,那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。
        2)對檢定點的選擇,一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內,最好檢定10點,即每0.1㎜檢一點。
        3)檢定引伸計時一定用整數刻度倍讀法,不要用游標估算讀數或小數尾數讀數,因為每一次的十點讀數已造成了讀數的疲勞,估算讀數或小數尾數讀(du)數(shu)會加(jia)劇測(ce)量誤差(cha)的產(chan)生。而整數(shu)單(dan)刻(ke)線對(dui)整讀(du)法最(zui)清晰簡單(dan)準確(que),出(chu)現誤差(cha)的機率最(zui)小(xiao),即便出(chu)現也(ye)(ye)會及時發(fa)(fa)現,因為整數(shu)刻(ke)度(du)倍讀(du)數(shu)的誤差(cha),其(qi)引伸(shen)計誤差(cha)值也(ye)(ye)會成倍數(shu)增加(jia),這(zhe)種(zhong)粗大誤差(cha)會被很快及時發(fa)(fa)現。
        4、加長立柱的使用:在使用基本立柱檢定引伸計時,無法保證該引伸計的標距空間時,取掉基本立柱上保護帽,將加長立柱插入主立柱對準V型槽,旋緊上螺絲。一定要固緊后,方可使用。
主要配置:
1. 組合校準桿2件。用于組合多種模擬分離試樣。
2. 刀片2件。裝置于組合校準桿上:用于COD或JIC夾規檢定。
3. 橫試片2件。裝置于組合校準桿上:用于橫向引伸計的檢定。
4. 板件2件。裝置于組合校準桿上:用于模擬板材試樣的檢定。
5. φ10×120桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
6. φ10×50桿件1件。置于測微頭連接套內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
7. φ10/φ5×100變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
8. φ10/φ5×50變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
9. 170㎜加長立柱1件。用于延長標定儀高度。
10. 聯接套1件。置于微分測頭滑動量桿φ10端頭上,連接分離試樣進行檢定。

維護(hu)與保養(yang):
1.上、下支臂拆裝時,應防止定位釘或鋼球的脫落,抱緊卡口過緊只允許用螺釘頂開。1、儀器出廠時精密微分測量頭的精度已調校好,使用中不得自行拆卸。
2.應在清潔無塵環境使用,并注意隨時保持儀器的清潔無塵。
3.注意防止外力損傷及銹蝕的產生。
4.上、下支臂拆裝時,應防止定位釘或鋼球的脫落。
5.定期交有關計量部門復檢。


技術參數:

1、測量引伸計標距范圍Lmax 500㎜
2、測量支座上支臂安裝孔徑  φ10;φ28
3、微分測頭讀數內筒軸向刻度  0.5㎜/格
4、微分測頭讀數外筒圓周刻度 0.002㎜/格
5、微分測頭讀數內筒游標刻度 0.0002㎜/格
6、高精密微分測頭精度指標
標定儀示值誤差:
校準范圍不超過1/3㎜受檢點時:±0.5μm 絕對誤差
校準范圍超過1/3㎜受檢點時:±0.15%   相對誤差


參(can)照標準:
JJF   1096-2002 引(yin)伸(shen)計標定器(qi)校準規范
ISO   9513:1999 金屬(shu)材料單軸(zhou)試驗用(yong)引伸計標定(ding)
JJG   762-2007 引(yin)伸計(ji)檢定(ding)規程

可進(jin)行0.5級引(yin)伸(shen)計的(de)標定 受檢點