薄膜(mo)測厚(hou)儀用于測量較(jiao)軟(ruan)或較(jiao)硬材料薄膜(mo)厚(hou)度，根據測量材料可選擇不同(tong)測力(li)范圍(wei)滿足不同(tong)測量任務需求。
低測力(li)可達(da)0.06N，高分辨率0.01μm。
分(fen)辨率：1μm
測力(li)：0.4-1.6N（根(gen)據需要選擇）
分(fen)辨率：0.1μm
測力：0.3-1.3N（根據需要(yao)選擇）
分辨(bian)率(lv)：0.01μm
測力：0.06-0.8N（根(gen)據需要選擇）
分辨率(lv)：1μm
測力：0.4-1.6N（根據需要選(xuan)擇）
分辨(bian)率：0.1μm
測力(li)：0.3-1.3N（根據需要選擇）
分辨(bian)率：0.01μm
測力：0.06-0.8N（根據需要選擇）
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