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JF1950-2021螺(luo)紋量(liang)規掃(sao)描測(ce)量(liang)儀校(xiao)準規范(簡稱(cheng)螺(luo)紋掃(sao)描儀) 

1、標準(zhun)光(guang)面圓柱(zhu)環(huan)規(gui)（光(guang)面環(huan)規(gui)）

2、標準光面圓(yuan)柱塞規(gui)(光面塞規(gui)）

3、標準光(guang)面圓錐環規（(光(guang)面錐環規）

4、標準光面(mian)圓錐(zhui)塞規(gui)（光面(mian)錐(zhui)塞規(gui)）

5、標準圓柱螺紋環規(gui)（圓柱螺紋環規(gui)）

б、標準圓柱(zhu)螺紋塞(sai)規(圓柱(zhu)螺紋塞(sai)規)

JF1950-2021螺(luo)(luo)紋量規掃(sao)(sao)描(miao)測(ce)量儀(yi)校準規范適用于軸截面雙向接觸掃(sao)(sao)描(miao)測(ce)量原(yuan)理的(de)螺(luo)(luo)紋量規掃(sao)(sao)描(miao)測(ce)量儀(yi)（簡稱螺(luo)(luo)紋掃(sao)(sao)描(miao)儀(yi)）的(de)校準。

1、徑向測量示值誤差

螺紋(wen)掃描儀在(zai)被測(ce)螺紋(wen)量(liang)規直徑方向測(ce)量(liang)的示值誤差。

2、探測誤差

掃描一個理想直線(xian)或曲線(xian)時，螺紋掃描儀測量(liang)的尺寸(cun)和形狀示值誤差。通過測量(liang)標準(zhun)圓柱不同位置的尺寸(cun)測量(liang)示值誤差及其變(bian)化進行評價(jia)。

3、錐度測量示值誤差

螺紋掃描儀測量(liang)光面圓錐(zhui)量(liang)規錐(zhui)度的示值誤差。用規定長(chang)度上直徑變化量(liang)的誤差(mm/mm)表(biao)達。

4、圓錐直徑測量示值誤差

螺紋掃(sao)描儀測量(liang)光面(mian)圓錐量(liang)規(gui)時(shi)，在(zai)安(an)裝基面(mian)處（環規(gui)大端面(mian)，塞規(gui)小端面(mian)）直徑的(de)示值(zhi)誤(wu)差。

概述

螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)掃(sao)(sao)描(miao)儀利用夾(jia)具對螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)量(liang)(liang)(liang)規(gui)(gui)進行(xing)(xing)定位，使螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)量(liang)(liang)(liang)規(gui)(gui)的(de)(de)(de)(de)(de)軸(zhou)截(jie)面(mian)與螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)掃(sao)(sao)描(miao)儀的(de)(de)(de)(de)(de)探針運動平(ping)面(mian)重合。探針在螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)量(liang)(liang)(liang)規(gui)(gui)的(de)(de)(de)(de)(de)軸(zhou)截(jie)面(mian)對輪(lun)廓表面(mian)進行(xing)(xing)掃(sao)(sao)描(miao)，采集(ji)(ji)探針掃(sao)(sao)描(miao)軌跡的(de)(de)(de)(de)(de)點集(ji)(ji)，并對點集(ji)(ji)進行(xing)(xing)分割處理和數(shu)學計算，獲(huo)得包括螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)單一中徑、中徑、螺(luo)(luo)(luo)(luo)距(ju)、牙側角、錐度(du)等參數(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)數(shu)據，也可(ke)以(yi)獲(huo)得作用中徑的(de)(de)(de)(de)(de)值。探針運動平(ping)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)大小取決于(yu)螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)掃(sao)(sao)描(miao)儀的(de)(de)(de)(de)(de)徑向(xiang)行(xing)(xing)程(cheng)(cheng)和軸(zhou)向(xiang)行(xing)(xing)程(cheng)(cheng)根據設計、探針、卡具的(de)(de)(de)(de)(de)配置及軟件不同，螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)掃(sao)(sao)描(miao)儀可(ke)以(yi)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)量(liang)(liang)(liang)規(gui)(gui)尺寸(cun)、規(gui)(gui)格、螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)牙形(xing)會有不同。螺(luo)(luo)(luo)(luo)紋(wen)掃(sao)(sao)描(miao)儀也可(ke)以(yi)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)光面(mian)圓柱和圓錐量(liang)(liang)(liang)規(gui)(gui)。

校準方法：

一、徑向測量示值誤差 AD

1.標準器分別選用(yong)(yong)3個光面(mian)圓(yuan)(yuan)柱(zhu)環(huan)規和光面(mian)圓(yuan)(yuan)柱(zhu)察規。*小(xiao)量規直徑(jing)應(ying)(ying)(ying)不大(da)于10mm，*大(da)量規直徑(jing)應(ying)(ying)(ying)不小(xiao)于測量范圍上(shang)限(xian)的(de)60%。光面(mian)圓(yuan)(yuan)柱(zhu)環(huan)規和光面(mian)圓(yuan)(yuan)柱(zhu)塞規的(de)直徑(jing)應(ying)(ying)(ying)分別采(cai)用(yong)(yong)不同的(de)值(zhi)(zhi)，量規的(de)直徑(jing)值(zhi)(zhi)應(ying)(ying)(ying)盡量均勻(yun)分布，覆蓋測量范圍。

2.測(ce)量(liang)(liang)標定用塞(sai)規或環(huan)規的(de)標稱直徑應與(yu)標準器標稱直徑不同，即選擇與(yu)標準器直徑相鄰(lin)，差值較(jiao)大的(de)，但應保證校(xiao)準和標定使用同一(yi)個卡具。當螺紋掃描(miao)儀軸向行程(cheng)不大于(yu)60mm時，評(ping)(ping)價位置(zhi)在(zai)量(liang)(liang)規的(de)中(zhong)部，掃描(miao)長度2mm。當螺紋掃描(miao)儀軸向行程(cheng)大于(yu)60mm時，評(ping)(ping)價位置(zhi)在(zai)量(liang)(liang)規的(de)中(zhong)部，并至少(shao)有一(yi)個量(liang)(liang)規在(zai)25mm和70mm處進行測(ce)量(liang)(liang)，掃描(miao)長度2mm。

3.探測誤(wu)差

1）標準器采用p10mm光面圓柱塞規，長度50mm。

2）測(ce)量(liang)(liang)配置針(zhen)尖間距(ju)離15mm的探針(zhen)。當螺紋掃描儀(yi)行(xing)程不小(xiao)于(yu)50mm時(shi)，測(ce)量(liang)(liang)距(ju)量(liang)(liang)規端面(mian)3mm，25mm和(he)47mm位置的直徑，掃描長度2mm。當螺紋掃描儀(yi)行(xing)程小(xiao)于(yu)50mm時(shi)，測(ce)量(liang)(liang)距(ju)量(liang)(liang)規端面(mian)3mm，行(xing)程中點(dian)和(he)距(ju)行(xing)程端點(dian)

3）mm位置的直徑(jing)，掃描長度2mm。

記錄測(ce)量(liang)位置(zhi)和測(ce)得值。分別(bie)與三(san)個位置(zhi)的直徑(jing)參考值比較，輸出直徑(jing)示(shi)值誤差(cha)AD;、AD,和ADs。探測(ce)誤差(cha)AF=max(AD，AD2，AD,)-min (AD，AD，AD;)

4、錐度測量示(shi)值誤差(cha)ATP，ATR

測(ce)量標準(zhun)光(guang)面(mian)圓錐(zhui)塞(sai)規和環規。靠近(jin)定位面(mian)，掃描軸向長(chang)度20mm。計算對徑母(mu)線之間(jian)的(de)來角(jiao)，給出錐(zhui)度值（單(dan)位:mm/mm).錐(zhui)度的(de)測(ce)得值與(yu)參考(kao)值的(de)差作為內/外圓錐(zhui)錐(zhui)度測(ce)量示值誤差ATP，ATR。

5、圓錐(zhui)直(zhi)徑(jing)測量示(shi)值(zhi)誤差AT，ATDR

利用測量(liang)獲得(de)的(de)(de)(de)母線(xian)，計算(suan)光(guang)面錐(zhui)(zhui)(zhui)塞(sai)(sai)規(gui)的(de)(de)(de)小端直(zhi)徑(jing)和光(guang)面錐(zhui)(zhui)(zhui)環規(gui)的(de)(de)(de)大(da)端直(zhi)徑(jing)。光(guang)面錐(zhui)(zhui)(zhui)塞(sai)(sai)規(gui)的(de)(de)(de)小端直(zhi)徑(jing)和光(guang)面錐(zhui)(zhui)(zhui)環規(gui)的(de)(de)(de)大(da)端直(zhi)徑(jing)的(de)(de)(de)測得(de)值(Dp，Dk)與參考(kao)值(Dpo，DRo)的(de)(de)(de)差為錐(zhui)(zhui)(zhui)度直(zhi)徑(jing)測量(liang)示(shi)值誤差ATp，ATD。

6、螺紋參數測(ce)量示值誤(wu)差

測量(liang)標準圓柱/圓錐螺(luo)紋塞規(gui)和環(huan)規(gui)，檢驗螺(luo)紋掃描儀(yi)的(de)綜合測量(liang)能(neng)力。

 選擇(ze)圓柱/圓錐螺紋塞(sai)規(gui)和環規(gui)各2個規(gui)格，8只量(liang)(liang)(liang)規(gui)進行測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。8只量(liang)(liang)(liang)規(gui)的標(biao)稱尺寸(cun)應不同，*大(da)規(gui)格應覆(fu)蓋到螺紋掃描儀測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)范圍的60%。

對于(yu)具有特(te)殊螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)品種量規(gui)校準能力的(de)螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)掃描儀，應(ying)采用相應(ying)的(de)標準螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)量規(gui)進行驗證。例如梯形螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)量規(gui)、石油螺(luo)(luo)紋(wen)(wen)量規(gui)等(deng)。