在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。
 

X射線能譜儀的簡介

X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法是在六十年代由瑞典科學家Kai Siegbahn教授發展起來的。由于在光電子能譜的理論和技術上的重大貢獻，1981年，Kai  Siegbahn獲得了諾貝爾物理獎。三十多年的來，X射線光電子能譜無論在理論上和實驗技術上都已獲得了長足的發展。XPS已從剛開始主要用來對化學元素的定性分析，已發展為表面元素定性、半定量分析及元素化學價態分析的重要手段。XPS的研究領域也不再局限于傳統的化學分析，而擴展到現代迅猛發展的材料學科。目前該分析方法在日常表面分析工作中的份額約50%，是一種最主要的表面分析工具。
 

X射(she)線能譜儀(yi)工作(zuo)的基本(ben)原理

X射線能譜儀為掃描電鏡附件，其原理為電子槍發射的高能電子由電子光學系統中的兩級電磁透鏡聚焦成很細的電子束來激發樣品室中的樣品，從而產生背散射電子，二次電子、俄歇電子、吸收電子、透射電子、X射線和陰極熒光等多種信息。若X射線光子由Si(Li)探測器接收后給出電脈沖訊號，由于X射線光子能量不同(對某一元素能量為一不變量)經過放大整形后 送人多道脈沖分析器，通過顯象管就可以觀察按照特征X射線能量展開的圖譜。一定能量上的圖譜表示一定元素，圖譜上峰的高低反映樣品中元素的含量(量子的數目)這就是X射線能譜儀的基本原理。
 

X射線能譜儀(yi)的結構

能譜儀由半導體探測器、前置放大器和多道脈沖分析器組成。它是利用X射線光子的能量來進行元素分析的。X射線光子有鋰漂移硅Si(Li)探測器接收后給出電脈沖信號，該信號的幅度隨X射線光子的能量不同而不同。脈沖信號再經放大器放大整形后，送入多道脈沖高度分析器，然后根據X射線光子的能量和強度區分樣品的種類和高度。
 

X射線(xian)能(neng)譜儀的優點與(yu)缺點

1、X射線能譜儀(yi)的(de)優(you)點

(1) 能快速、同時對除(chu)H和(he)He以外的所有元素進行元素定性、定量(liang)分(fen)(fen)析，幾分(fen)(fen)鐘內就(jiu)可完成；可以直(zhi)接(jie)測(ce)定來(lai)自樣品單個能級光電(dian)發射電(dian)子的能量(liang)分(fen)(fen)布，且(qie)直(zhi)接(jie)得到電(dian)子能級結構的信息(xi)。

 (2) 對(dui)試(shi)樣與探測器(qi)的幾何位置(zhi)要求低(di)：對(dui)W.D的要求不是很嚴格；可以在低(di)倍率下獲得X射線掃描、面分布結果。

(3) 能譜所(suo)需(xu)探(tan)針電流小(xiao)(xiao)，是(shi)一種(zhong)無損(sun)分析。對電子(zi)束(shu)照射后易損(sun)傷(shang)的試(shi)樣，例如生物試(shi)樣、快離子(zi)試(shi)樣、玻(bo)璃等(deng)損(sun)傷(shang)小(xiao)(xiao)。

(4) 是一種高靈敏超微量表面分析技術。分析所需試樣約8-10g即可，靈敏度高達10-18g，樣品分析深度約2nm。
 

2、X射線能(neng)譜儀(yi)的缺點

(1) 分辨率(lv)低，比(bi)X射線波長色(se)散(san)譜(pu)儀(yi)的分辨率(lv)(~10電子(zi)伏)要低十(shi)幾倍(bei)；

(2) 峰背比低(di)(di)(約為100)，比X射線波長色散譜儀的要(yao)低(di)(di)10倍，定(ding)量(liang)分析尚存在(zai)一些困難；

(3) Si(Li)探測器必須(xu)在液氮溫度下保存和使(shi)用，因此要(yao)保證液氮的(de)連線供應；

(4) 不(bu)能分析(xi)(xi)Z小于11的(de)元(yuan)素(su)，分辨(bian)率、探(tan)測極限以及分析(xi)(xi)精度都(dou)不(bu)如波譜(pu)儀(yi)。因此(ci)，它常常跟波譜(pu)儀(yi)配合使用。

X射線能譜儀(yi)的應用

 1、元(yuan)素定性分析

 元素周期表中的任何一種元素都有各自的原子結構，與其他元素不同，正是這種結構的不同，使得每種元素有自己的特征能譜圖，所以測定一條或幾條電子線在圖譜中的位置，很容易識別出樣品顯示的譜線屬于哪種元素。由于每種元素都有自己的特定的電子線，即使是相鄰的元素也不可能出現誤判，因此用這種方法進行定性分析是非常準確的。通過對樣品進行全掃描，在一次測定中就可以檢出全部或大部分元素
 

2、元素(su)定(ding)量分折

 X射線光電子能譜定量分析的依據是光電子譜線的強度(光電子蜂的面積)反映了原于的含量或相對濃度。由于在進行元素電子掃描時所測得的信號的強度是樣品物質含量的函數，因此，根據所得電子線的強弱程度可以半定量或定量地得出所測元素的含量。之所以有半定量的概念，是因為影響信號強弱的因素除了樣品中元素的濃度外，還與電子的平均自由行程和樣品材料對激發X射線的吸收系數有關。在實際分析中，采用與標準樣品相比較的方法來對元素進行定量分析，其分析精度達1%～2%。
 

3、固(gu)體表面分(fen)析

固體表面是指最外層的1～10個原子層，其厚度大概是 (0.1~1) n nm。人們早已認識到在固體表面存在有一個與團體內部的組成和性質不同的相。表面研究包括分析表面的元素組成和化學組成，原子價態，表面能態分布。測定表面原子的電子云分布和能級結構等。
 

4、化合物結構(gou)鑒定

X射線光電(dian)子(zi)能譜法(fa)對于內殼層(ceng)電(dian)子(zi)結合能化學位移的精確測量，能提(ti)供(gong)化學鍵(jian)和(he)(he)電(dian)荷分布方面的信息。化學結構(gou)(gou)的變化和(he)(he)化合物氧化狀態的變，可以引(yin)起(qi)電(dian)子(zi)線峰位的有規律(lv)的移動。據此，可以分析有機(ji)物、無(wu)機(ji)物的結構(gou)(gou)和(he)(he)化學組成。

X射線(xian)(xian)能譜是最(zui)常(chang)用(yong)(yong)的分(fen)析(xi)工具。在表面吸附(fu)、催(cui)化(hua)、金屬的氧化(hua)和腐蝕、半導體、電極鈍化(hua)、薄膜材(cai)料等方面都有應用(yong)(yong)。目前X射線(xian)(xian)能譜儀已(yi)成為實(shi)驗研究及分(fen)析(xi)技(ji)術中常(chang)用(yong)(yong)的工具，其(qi)測(ce)量意義重大。今后X能譜儀還需在分(fen)辨率、峰(feng)背比、使用(yong)(yong)范圍、探測(ce)精(jing)度等做更(geng)進(jin)一(yi)步的完(wan)善和改進(jin)。隨著科學技(ji)術的不(bu)斷發展，更(geng)加優(you)良的X射線(xian)(xian)能譜儀將應用(yong)(yong)于(yu)更(geng)多的部門(men)和領域。