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S1000-掃描電鏡放大倍率校準圖形標準樣品

時間:2019-09-06 作者:普天同創(chuang) 閱讀:5628


概述簡介:

        普天同創(chuang)(深圳)科技有限公司(si) 為掃描電鏡客戶定制放大倍率標(biao)準樣(yang)品。標(biao)樣(yang)基質材(cai)料為單晶硅或石(shi)英玻璃基片,材(cai)料性質穩定。由德國(guo)聯邦物(wu)理研(yan)究(jiu)所(PTB)對線距均(jun)勻性(xing)進行(xing)測量(liang)認證。測量(liang)結果(guo)可直接溯源至米定義計(ji)量(liang)基準。


規格尺寸

        5mm×5mm×0.5mm(長×寬×厚(hou))


產品描述

     . 主(zhu)體圖形為一“回”字形方框,分為(wei)4個象限,XY軸上為(wei)垂直坐標軸方向的(de)線距(ju)20μm的(de)短平(ping)行線條(tiao),

     . 4個(ge)象限(xian)上(shang)分別(bie)是線(xian)距為(wei)40μm、20μm、10μm的(de)方(fang)格網狀圖形和(he)線(xian)距為(wei)5μm的(de)X、Y雙(shuang)向平行線(xian)條圖形。

     . 內框(kuang)中部又(you)是“回”字形方框(kuang)(kuang)(kuang),大(da)框(kuang)(kuang)(kuang)和(he)(he)小框(kuang)(kuang)(kuang)之間在X方向(xiang)和(he)(he)Y方向(xiang)上(shang)都有線(xian)(xian)(xian)(xian)距(ju)(ju)為5μm的(de)平行線(xian)(xian)(xian)(xian)條,小框(kuang)(kuang)(kuang)里面是(shi)線(xian)(xian)(xian)(xian)距(ju)(ju)為1μm或0.5μm的(de)X、Y雙向(xiang)平行線(xian)(xian)(xian)(xian)條圖(tu)形(如圖(tu))。在5μm和(he)(he)1μm或0.5μm的(de)線(xian)(xian)(xian)(xian)距(ju)(ju)結構上(shang)還有一些十字形和(he)(he)圓點,可用(yong)于在較大(da)放大(da)倍(bei)率下圖(tu)像的(de)聚集和(he)(he)像散調(diao)整。不同的(de)線(xian)(xian)(xian)(xian)距(ju)(ju)大(da)小可用(yong)于從10×~100,000×放大(da)倍(bei)率范圍(wei)的(de)校準,而把(ba)40μm、20μm和(he)(he)10μm的線距結構(gou)設計成方(fang)格形,是為了在(zai)對放大(da)倍(bei)率(lv)進行(xing)準確校(xiao)準的同時(shi),可以對圖像的畸變、像散等進行(xing)校(xiao)驗, 5μm和1μm/0.5μm的(de)線距結構也同時(shi)具有(you)X、Y兩個方(fang)向的(de)平行(xing)線條,是為了(le)方(fang)便同時(shi)對X、Y兩個方(fang)向進行(xing)放大倍率的(de)校準(zhun)而(er)不(bu)必(bi)機(ji)械(xie)旋轉(zhuan)標(biao)準(zhun)器(qi)。


主(zhu)要用途(tu):

     . 可用于同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進行檢查或校正,是校準從10×~100,000×范圍的圖像放大倍率的最有效的圖形標準樣品
     . 可用于對圖像的X、Y方向上的畸變和邊緣的畸變進行校驗,是評價掃描電鏡圖像質量的個重要工具
     . 可直接用于同一量級物體長度的精確比對測量
     . 對樣品臺傾斜角和電子傾斜以及旋轉調整功能的檢驗也有較好的作用

     . 利用標樣上的“點子”圖像,可對電子束作漂移檢驗和樣品臺復位檢驗


使用方法:

     . 盡量使用較低的工作電壓,如5KeV或更低
     . 盡量使用較小的束流,并避免對標準樣品的長時間掃描
     . 注意,測量時必須選擇“線周期”進行測量(即 Pitch),即一黑一白為“一根線”
     . 必須同時測量雙向的距離,交角為90度
     . 測量的雙向距離大約占圖像的二分之一或三分之二
     . 同時,通常在適當倍率下,應測量3-5條線值的平均值;如我們在標(biao)樣說明書中所(suo)示的照片(pian)那(nei)樣

     . 可以直接參照標樣說明書的那八張相近圖像進行測量


注意事(shi)項:

        使用前應認真(zhen)檢查標準樣品表面(mian)有(you)無污染物和損壞(huai),因為這會影響校準。請勿使(shi)用已(yi)破(po)損或有污染物(wu)的標準(zhun)樣品(pin)!可用(yong)清(qing)潔干燥的空氣(qi)(qi)或氮氣(qi)(qi)清除(chu)標準(zhun)樣(yang)品上的灰塵、碎片(pian)或其他污染物(wu),注(zhu)意不(bu)要損壞(huai)標準(zhun)樣(yang)品。有條(tiao)件的實驗室應不定期地(di)通過與其他標準樣品(pin)的對比(bi)來(lai)檢查(cha)標準樣品(pin)的特性和(he)用(yong)法來(lai)確(que)定其檢查(cha)頻(pin)率。