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技術前沿

數字絕緣電阻測試儀

時(shi)間：2019-12-04 作者：化工儀器網 閱讀(du)：4846
        本(ben)系(xi)列儀器是一種直讀式(shi)的數字高阻測試儀，量程達2×1015Ω。適(shi)用于高阻(zu)值絕緣材料、電工(gong)產品(pin)、各類元器件(jian)及電線電纜的(de)絕緣電阻(zu)的(de)測量。選配電極箱能測量絕(jue)緣材料的表(biao)面電阻和(he)體積(ji)電阻。

液體增(zeng)塑劑體積電阻率(lv)的測(ce)定GB1672-88 


標準說明(ming)
1、主題內容(rong)與適(shi)用范圍
    本(ben)標準規定了液(ye)體(ti)(ti)增塑劑的體(ti)(ti)積電(dian)阻率的測定方法(fa)。
    本(ben)標準適(shi)用于測(ce)定液(ye)體增塑劑的體積電阻率。其他(ta)液(ye)體助劑也可參照本(ben)測(ce)定方法(fa)。
2、體積電阻率的定義
    是在試樣體積電(dian)流(liu)方向的直流(liu)電(dian)場(chang)強度與(yu)該處電(dian)流(liu)密度之比(bi)，以(yi)Ω?m表示。
3、試樣
   3.1 液體增塑劑試樣(yang)每次用40ml左右。
   3.2 試樣應無氣泡及雜質缺陷。
   3.3 試樣應在溫度23±2℃、相對濕度60-70%的條件下放(fang)置2h以上。
    4、測試(shi)儀器及電極 
4.1 高阻計(ji)
高阻計測(ce)試時應滿足下列要求：
   a.高(gao)阻(zu)計測量范圍應包括(kuo)1*106-1*1017Ω。
   b.阻值大于(yu)1012Ω時(shi)，測量誤(wu)(wu)差小(xiao)于(yu)±20%；阻值等(deng)于(yu)或小(xiao)于(yu)1012Ω時(shi)，測量誤(wu)(wu)差應(ying)小(xiao)于(yu)±10%。
   c.零點(dian)飄移每(mei)小時(shi)不大于全(quan)標尺的4%。
   d.輸(shu)入(ru)接線的絕緣(yuan)電(dian)(dian)阻應大于(yu)儀器(qi)輸(shu)入(ru)電(dian)(dian)阻的100倍。
   e.測試電(dian)路應有良好(hao)的屏(ping)蔽。
   f.儀(yi)器(qi)應定期進行校驗(yan)。
   4.2 電極(ji)
    電極(ji)(ji)應由黃銅或不(bu)銹鋼制成。高壓電極(ji)(ji)內徑146mm，測量(liang)電極(ji)(ji)外徑120mm，護環(huan)寬度8mm，測量(liang)電極(ji)(ji)與高壓電極(ji)(ji)的間(jian)隙(xi)為(wei)2mm，電極(ji)(ji)工作面粗糙度為(wei)1.6以(yi)下。電級的開關和尺寸如(ru)圖1所示。
 5、測定步驟
   5.1 將經過處理后的試樣倒(dao)入高(gao)壓電(dian)極內，使(shi)液面(mian)剛(gang)好和(he)測量表面(mian)全(quan)部接觸。
   5.2 測(ce)試(shi)須在溫度(du)23±2℃及相(xiang)對濕度(du)60-70%環境中進(jin)行。
   5.3 試(shi)驗(yan)時，對試(shi)樣(yang)所加(jia)的電(dian)壓為100-500V的直流電(dian)壓。
   5.4 將電(dian)(dian)極(ji)接入儀器測(ce)量端，調整儀器，按儀器說明(ming)書進(jin)行(xing)操作(zuo)。加上試(shi)(shi)驗電(dian)(dian)壓1min，讀取電(dian)(dian)阻的指示(shi)值(zhi)，同時須對(dui)試(shi)(shi)樣連續測(ce)定(ding)兩次(ci)，取兩次(ci)結果算術平均值(zhi)。每次(ci)測(ce)定(ding)后(hou)試(shi)(shi)樣及地極(ji)要放電(dian)(dian)1min。
6、計算
    體積(ji)電阻(zu)率ρv（Ω?m）按式（1）（2）計算：
        S＝π/4(D＋g)2   (1)
        ρv＝Rv(S/d)　　 (2)
式(shi)中       Rv — 體積電阻，Ω；   
             S— 平(ping)板(ban)測量電極的有效面積，m2；
             D— 平(ping)板(ban)測量電極直徑，m；
             g— 測量電極(ji)(ji)與保護(hu)電極(ji)(ji)間(jian)隙寬度，m；
             d— 試樣(yang)厚度，m。
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