涂層(ceng)測厚儀(yi)也叫(jiao)做膜厚儀(yi)、鍍層(ceng)測厚儀(yi)或者漆(qi)膜測厚儀(yi)，不同類(lei)型的測厚儀(yi)可以通過磁性法、渦流法、超聲(sheng)波(bo)法、電(dian)解法、放射法來檢測(ce)金屬基(ji)材表面的涂鍍(du)層的厚度(du)，不同(tong)測(ce)厚儀應用(yong)于(yu)原理不一樣，測(ce)量的精度(du)也是有所有差異的。
常見(jian)的涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀測(ce)量功能(neng)不同，可以分為鐵(tie)基(ji)涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀、鋁基(ji)涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀、兩(liang)用(yong)涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀，再根據(ju)探頭(tou)的形式，可以分為一體式和分體式。
雖然不同涂(tu)層測(ce)厚儀測(ce)量(liang)的原理不同，不過基(ji)本(ben)操作區別(bie)并不大(da)，簡(jian)單方便。
1. 開機：開關鍵一鍵開關機
2. 校(xiao)準：可采用單點校(xiao)準或多點校(xiao)準
3. 進行測(ce)量：校準完成后則可以進行測(ce)量了，可選擇(ze)單次(ci)測(ce)量或(huo)多次(ci)測(ce)量。
使(shi)用須(xu)知：
1. 若測(ce)量(liang)過程中測(ce)頭放(fang)置不穩(wen)，會引起測(ce)量(liang)值與實際值偏(pian)差較大(da)
2. 如果(guo)已經進行了適當的校準，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(nei)；
3. 儀器的任何一(yi)個測量值都是(shi)五(wu)次看不見的測量平(ping)均(jun)值；
4. 可在一個(ge)點(dian)多次測量，并(bing)計算其(qi)平(ping)均值(zhi)作為最(zui)終的測量結果，保證測量更加精確；
5. 顯示測(ce)量結果后，一(yi)定(ding)要(yao)提起測(ce)頭至距(ju)離工件10mm以上，才可以進行下次測(ce)量。
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