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影響涂層測厚儀測量精度的因素有哪些

時間:2021-08-09 作者(zhe):普天同創 閱讀:3372

        涂(tu)層測(ce)厚(hou)儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非(fei)磁性金屬(shu)基體(如(ru)銅、鋁、鋅、錫等)上(shang)非(fei)導電覆層的厚(hou)度(du)(如(ru):琺(fa)瑯、橡膠、油漆、塑料等)。但在使用過程中某些因(yin)素可能(neng)會影響其測量精(jing)度,下(xia)面簡要介紹一下(xia)可能(neng)影響(xiang)涂層測(ce)(ce)厚儀測(ce)(ce)量精度(du)的一些因素(su)

        基體金(jin)屬磁化:磁性法測(ce)量受基(ji)體(ti)金屬磁性變(bian)化的影響(xiang)(在實際應(ying)用(yong)中,低(di)碳鋼磁性的變(bian)化可以認(ren)為是(shi)輕(qing)微的)。為了(le)避免熱處理、冷加(jia)工等因(yin)素的影響(xiang),應(ying)使用(yong)與鍍件(jian)金屬具有相(xiang)同性質的鐵基(ji)片上對(dui)儀器進行校對(dui)。

        基體金屬厚度:每一(yi)種儀器(qi)都(dou)有一(yi)個基體金屬的(de)臨界厚度(du),大于這個厚度(du)測量就(jiu)不(bu)受(shou)基體厚度(du)的(de)影響(xiang)。

        邊緣(yuan)效應:本儀(yi)器對試片表面形狀的陡變敏感,因此在(zai)靠近試片邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

        曲(qu)率(lv):試件(jian)(jian)的(de)曲率(lv)對(dui)測(ce)量(liang)有影(ying)響,這種影(ying)響是隨著曲率(lv)半徑(jing)減小(xiao)明顯增大。因(yin)此不應在試件(jian)(jian)超(chao)過允許的(de)曲率(lv)半徑(jing)的(de)彎(wan)曲面(mian)上測(ce)量(liang)。

        表面(mian)粗糙(cao)度(du):基體金屬和表面粗糙(cao)度對測(ce)量(liang)(liang)有(you)影響。粗糙(cao)度增(zeng)大(da),影響增(zeng)大(da)。粗糙(cao)表面會引(yin)起系統誤(wu)差(cha)(cha)和偶(ou)然誤(wu)差(cha)(cha)。每次(ci)(ci)測(ce)量(liang)(liang)時,在不同位置(zhi)上增(zeng)加測(ce)量(liang)(liang)的次(ci)(ci)數,克服這(zhe)種偶(ou)然誤(wu)差(cha)(cha)。如(ru)果基(ji)體(ti)金屬粗(cu)(cu)糙還(huan)必須在(zai)未涂覆(fu)的(de)粗(cu)(cu)糙相類(lei)似的(de)基(ji)體(ti)金屬試件上取幾(ji)個位置校(xiao)對(dui)儀器的(de)零(ling)點;或(huo)用(yong)沒(mei)有腐蝕性的(de)溶液除去在(zai)基(ji)體(ti)金屬上的(de)覆(fu)蓋(gai)層(ceng),再校(xiao)對(dui)儀器零(ling)點。

        磁場:周圍各種電氣(qi)設備所(suo)產生的強磁場,會嚴重地干(gan)擾磁性測量厚(hou)度的工作。

        附(fu)著物(wu)質:本(ben)儀(yi)器對那些妨礙(ai)探(tan)(tan)頭與覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)表面(mian)緊密(mi)接(jie)觸的附(fu)著物(wu)質敏(min)感。因此必須清除附(fu)著物(wu)質,以保證探(tan)(tan)頭與覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)表面(mian)直接(jie)接(jie)觸。

        探(tan)頭的放置:探頭的放置(zhi)方(fang)式對(dui)測量有(you)影響,在測量中(zhong)使(shi)探頭與試樣表面保持(chi)垂直。

        試片的變(bian)形:探頭(tou)使軟(ruan)覆(fu)蓋層試件(jian)變形,因此在這些(xie)試件(jian)上會出(chu)現不太(tai)可靠的數據。

        讀數次(ci)數:通(tong)常(chang)儀器的(de)每次讀數并不(bu)完全相(xiang)同。因(yin)此必須在(zai)每一(yi)測(ce)量(liang)面(mian)積內取幾個測(ce)量(liang)值,覆蓋層厚度的(de)局部差異,也要求在(zai)給定的(de)面(mian)積內進行測(ce)量(liang),表面(mian)粗糙時更應如(ru)此。

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