邵(shao)氏(shi)硬(ying)度計(ji)檢定(ding)裝(zhuang)(zhuang)置校(xiao)(xiao)準(zhun)過程(cheng)一般采用(yong)分(fen)部(bu)校(xiao)(xiao)準(zhun)方法。其示值誤差主(zhu)要(yao)來源于試(shi)驗(yan)(yan)力、壓(ya)(ya)(ya)針(zhen)伸(shen)出量(liang)和(he)壓(ya)(ya)(ya)針(zhen)尺寸,分(fen)部(bu)校(xiao)(xiao)準(zhun)即(ji)校(xiao)(xiao)準(zhun)上述(shu)3個關鍵參數(shu)。壓(ya)(ya)(ya)針(zhen)尺寸使用(yong)投(tou)影儀檢定(ding)測量(liang),試(shi)驗(yan)(yan)力和(he)壓(ya)(ya)(ya)針(zhen)伸(shen)出量(liang)同(tong)步校(xiao)(xiao)準(zhun)方法。邵(shao)氏(shi)硬(ying)度計(ji)主(zhu)要(yao)由(you)壓(ya)(ya)(ya)針(zhen)、壓(ya)(ya)(ya)足、試(shi)驗(yan)(yan)力施(shi)加(jia)機構(彈簧)、壓(ya)(ya)(ya)針(zhen)伸(shen)出長度測量(liang)指示裝(zhuang)(zhuang)置(位(wei)移測量(liang)裝(zhuang)(zhuang)置)等組成(cheng)。硬(ying)度計(ji)使用(yong)期(qi)間應該定(ding)期(qi)使用(yong)合適的儀器對試(shi)驗(yan)(yan)力和(he)有關幾何(he)尺寸進行調整(zheng)和(he)校(xiao)(xiao)準(zhun)。
邵氏硬度(du)計檢定裝置校準(zhun)過程(cheng):
1.跟蹤校準裝置理論基礎:硬(ying)度(du)計(ji)固定在測(ce)試臺,上(shang)升(sheng)測(ce)力(li)(li)(li)儀;在測(ce)力(li)(li)(li)儀上(shang)施加硬(ying)度(du)計(ji)試驗(yan)力(li)(li)(li),并在硬(ying)度(du)計(ji)示值(20~100)HA范(fan)圍內均(jun)勻分布5個(ge)點,讀(du)取硬(ying)度(du)計(ji)進程時不同示值的試驗(yan)力(li)(li)(li);每個(ge)點以進程方(fang)向測(ce)量3次,記錄(lu)每點試驗(yan)力(li)(li)(li)結果作(zuo)為試驗(yan)力(li)(li)(li)校準數據(ju);同步(bu)跟蹤、連續記錄(lu)試驗(yan)力(li)(li)(li)和位移(yi),獲得連續的試驗(yan)力(li)(li)(li)結果。
2.同(tong)步跟蹤校(xiao)準(zhun)裝置結構(gou):將硬度計(ji)固定在校(xiao)準(zhun)工作臺,測(ce)力(li)傳(chuan)感(gan)器(qi)和(he)(he)位(wei)移(yi)(yi)(yi)傳(chuan)感(gan)器(qi)的(de)移(yi)(yi)(yi)動(dong)側(ce)剛性連(lian)接;調(diao)節微調(diao)旋鈕使硬度計(ji)示(shi)值到(dao)開始校(xiao)準(zhun)硬度值10 HA,作為(wei)校(xiao)準(zhun)起點(dian);勻(yun)速移(yi)(yi)(yi)動(dong)直線(xian)位(wei)移(yi)(yi)(yi)結構(gou),帶(dai)動(dong)測(ce)力(li)傳(chuan)感(gan)器(qi)和(he)(he)位(wei)移(yi)(yi)(yi)傳(chuan)感(gan)器(qi);軟件記錄(lu)測(ce)力(li)傳(chuan)感(gan)器(qi)和(he)(he)壓(ya)針位(wei)移(yi)(yi)(yi)數據,存(cun)儲到(dao)系(xi)統(tong)中。
邵(shao)氏(shi)(shi)硬度計檢定裝(zhuang)置(zhi)為(wei)(wei)滿足計量(liang)檢定要(yao)求和(he)實(shi)際操作,裝(zhuang)置(zhi)做(zuo)了相應改進。試驗(yan)方法規定硬度計有1個(ge)預壓載力,即邵(shao)氏(shi)(shi)硬度為(wei)(wei)0.0 HA時,試驗(yan)力為(wei)(wei)0.55 N,而位(wei)移(yi)(yi)0.0很(hen)難被觀察到。為(wei)(wei)此,裝(zhuang)置(zhi)從10 HA開始進行記錄力和(he)位(wei)移(yi)(yi)。為(wei)(wei)避免位(wei)移(yi)(yi)測(ce)(ce)量(liang)誤差(cha)導(dao)致(zhi)試驗(yan)力不(bu)準確,采用反射式Renishaw光柵(zha)(zha)尺(chi)測(ce)(ce)量(liang)位(wei)移(yi)(yi),光柵(zha)(zha)尺(chi)移(yi)(yi)動片(pian)與(yu)壓針剛性(xing)連接,從而避免測(ce)(ce)力傳感器變形量(liang)對(dui)位(wei)移(yi)(yi)測(ce)(ce)量(liang)的(de)影響(xiang)。