回答是肯定的(de)(de)。掃(sao)描電鏡本身的(de)(de)唯一功能(neng)(neng)不僅僅是用作微區放大,而且可以進行微米、 納米微小尺度計量測量。目(mu)前在國內能(neng)(neng)測量納米長度的(de)(de)儀(yi)器(qi)雖(sui)然(ran)有(you)多(duo)種，然(ran)而具(ju)備真正意義(yi)的(de)(de)納米計量測量條件的(de)(de)儀(yi)器(qi)不多(duo)。在測量的(de)(de)同時又能(neng)(neng)直接顯(xian)(xian)示納米物體形態，而且有(you)合理、合法的(de)(de)標(biao)準器(qi)、有(you)計量檢(jian)定規程，可以實現計量溯源的(de)(de)儀(yi)器(qi)非掃(sao)描電子顯(xian)(xian)微鏡莫屬。

換一句話說，掃描電鏡不(bu)僅能測(ce)長，而且(qie)理(li)應成為許多實際(ji)測(ce)長應用領域中最(zui)佳的(de)測(ce) 量工具。

掃描電鏡測長的三個基本條件是什(shen)么(me)？

掃(sao)描電鏡能否作(zuo)為測長計量儀器(qi)所必需的三個條件是：

(1)必須有掃描電(dian)鏡的計(ji)量檢定規程

計量(liang)檢定(ding)規(gui)程(cheng)應對與(yu)掃(sao)(sao)描(miao)電鏡(jing)測長有關的(de)(de)儀(yi)器參(can)數，如掃(sao)(sao)描(miao)電鏡(jing)分辨力(li)的(de)(de)、圖像(xiang)放大倍率等進行校驗(yan)或(huo)校準并(bing)對重復性的(de)(de)確定(ding)，以及圖像(xiang)畸變或(huo)線(xian)性失真度(du)的(de)(de)校驗(yan)等做(zuo)出明(ming)確的(de)(de)規(gui)定(ding)，只有通(tong)過計量(liang)檢定(ding)的(de)(de)掃(sao)(sao)描(miao)電鏡(jing)才可以用于(yu)精確測長。

(2)必(bi)須有掃描電鏡的長度測量(liang)的標準方法

標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)方法規(gui)定掃描電鏡在(zai)測長(chang)(chang)時應遵循的(de)步(bu)驟及(ji)應注意的(de)一些問題，只有嚴格按照標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)方法的(de)規(gui)定執行，才可能將測量(liang)的(de)長(chang)(chang)度(du)值追溯到長(chang)(chang)度(du)基準(zhun)(zhun)(zhun)。

(3)必須有掃描電鏡測(ce)長(chang)用的(de)長(chang)度標準器

在(zai)掃描電鏡(jing)計量檢定時所(suo)進行的(de)(de)圖像放大(da)倍率(lv)校準(zhun)(zhun)和(he)在(zai)測長(chang)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)方法規(gui)定的(de)(de)實(shi)際(ji)測量過程中(zhong)都必須使用長(chang)度標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)器。如2004年通過審(shen)查的(de)(de)三(san)個(ge)柵網(wang)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)樣品（柵網(wang)的(de)(de)大(da)小分別為(wei) 12.50μm（G125）、25.00μm（G250）、62.50μm、82.50μm、125.00μm、165.00μm（G4）)和(he)正在(zai)研制的(de)(de)其他微米(mi)和(he)納米(mi)量級(ji)的(de)(de)長(chang)度標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)器就是這樣的(de)(de)長(chang)度標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)器。它是這三(san)個(ge)基本條(tiao)件的(de)(de)核心。