相對測量的平行度。
平(ping)(ping)行平(ping)(ping)晶,以(yi)光波干(gan)涉原理為基礎(chu),利用(yong)平(ping)(ping)行平(ping)(ping)晶的測(ce)量(liang)(liang)(liang)面(mian)與試件的被(bei)測(ce)量(liang)(liang)(liang)面(mian)之間所出現的干(gan)涉條紋(wen)來測(ce)量(liang)(liang)(liang)被(bei)測(ce)量(liang)(liang)(liang)面(mian)的誤差程度。具有高(gao)精度的平(ping)(ping)面(mian)性(xing)和(he)平(ping)(ping)行性(xing)。
規 格 |
精 度(du) |
塊(kuai)數 |
0-25 |
0.6μm |
4 |
25-50 |
0.6μm |
4 |
50-75 |
0.6μm |
4 |
75-100 |
1.0μm |
4 |