薄(bo)膜測(ce)厚(hou)儀用于測(ce)量(liang)較軟或較硬材(cai)料薄(bo)膜厚(hou)度，根(gen)據(ju)測(ce)量(liang)材(cai)料可選擇不(bu)同(tong)測(ce)力(li)范(fan)圍滿(man)足不(bu)同(tong)測(ce)量(liang)任務需求。
低測(ce)力可達0.06N，高分(fen)辨(bian)率(lv)0.01μm。
分辨率：1μm
測(ce)力：0.4-1.6N（根據需(xu)要(yao)選(xuan)擇）
分辨率：0.1μm
測力(li)：0.3-1.3N（根據需(xu)要選擇）
分辨率：0.01μm
測力：0.06-0.8N（根據需(xu)要選擇）
分辨率：1μm
測力：0.4-1.6N（根(gen)據需要選(xuan)擇）
分(fen)辨(bian)率：0.1μm
測力：0.3-1.3N（根(gen)據需要(yao)選擇）
分辨率：0.01μm
測力：0.06-0.8N（根據需要(yao)選擇(ze)）
購物車
點擊咨詢
2505646471
400-8830-979 