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螺旋測微器

PTTC-300型 高精度微分頭
產品簡介：普天同創生產精密微分頭，硬質合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。（可滿足需求定制各類非標微分頭）
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        普天同創生產精密微分頭，硬質合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器(qi)、設備的(de)微調與測量。（可定制各類非標微分頭）


位移(yi)變化讀(du)數：

        L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)

                a—內筒毫(hao)米刻線讀數

                b—外筒刻線讀(du)數

                c—游標刻(ke)線讀數

                a0 b0 c0 為相應位移(yi)變化前讀數


        微分測量頭讀數內筒軸向刻度     0.5mm/格
        微分測量頭讀數外筒圓周刻度   0.005mm/格
        微分測量頭精度示值誤差指標 分度值 0.0005mm
        精度 ±0.001mm
微分測量頭讀數內(nei)筒軸(zhou)向刻度     0.5mm/格
微分測(ce)量頭讀數(shu)外筒(tong)圓周刻度   0.005mm/格
微(wei)分測量頭精度示值誤差(cha)指標 分度值 0.0005mm
精度 ±0.001mm
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