涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度是衡(heng)量(liang)(liang)(liang)涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)質量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)重(zhong)要(yao)標志之一(yi)(yi)，在(zai)(zai)(zai)(zai)產品質量(liang)(liang)(liang)、過程(cheng)控制(zhi)(zhi)和(he)(he)(he)成(cheng)(cheng)本控制(zhi)(zhi)中都(dou)發揮著重(zhong)要(yao)的(de)(de)作用(yong)。涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)的(de)(de)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度在(zai)(zai)(zai)(zai)很大程(cheng)度上影響著產品的(de)(de)可(ke)靠性(xing)(xing)和(he)(he)(he)使用(yong)價值。通(tong)過對(dui)涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，除了評(ping)(ping)定(ding)有(you)公差指標或(huo)修復尺(chi)寸要(yao)求的(de)(de)工件是否(fou)合理外，還能(neng)直接(jie)或(huo)間(jian)接(jie)的(de)(de)評(ping)(ping)估涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)的(de)(de)耐(nai)蝕性(xing)(xing)、耐(nai)磨性(xing)(xing)等性(xing)(xing)能(neng)。因(yin)此(ci)(ci)它在(zai)(zai)(zai)(zai)涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)質量(liang)(liang)(liang)檢(jian)(jian)驗和(he)(he)(he)工藝研究中被普遍采(cai)用(yong)。在(zai)(zai)(zai)(zai)彩涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)板(ban)生產過程(cheng)中，必須(xu)準確(que)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)出涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度，其(qi)目的(de)(de)是保證涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)覆涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)達到規定(ding)的(de)(de)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度，避(bi)免(mian)由(you)于不適(shi)當厚(hou)(hou)(hou)(hou)度導致涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)過早失(shi)效或(huo)因(yin)涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)過厚(hou)(hou)(hou)(hou)帶來涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)料的(de)(de)過多(duo)損耗及成(cheng)(cheng)本的(de)(de)增加(jia)。為了不破壞(huai)涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)表面(mian)結構，建立保持統一(yi)(yi)的(de)(de)標準，就(jiu)需(xu)要(yao)對(dui)涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)進行(xing)(xing)規范，根據相關(guan)標準，適(shi)用(yong)涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)來進行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。現在(zai)(zai)(zai)(zai)，人員(yuan)可(ke)以利用(yong)許多(duo)不同種類的(de)(de)儀(yi)(yi)器和(he)(he)(he)方(fang)法(fa)(fa)來測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)或(huo)薄(bo)膜的(de)(de)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度。而(er)在(zai)(zai)(zai)(zai)選取測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)(fa)時需(xu)要(yao)考慮到許多(duo)因(yin)素，包(bao)括涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)的(de)(de)類型、基體材料、涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度范圍(wei)、被測(ce)(ce)(ce)件的(de)(de)形狀(zhuang)(zhuang)和(he)(he)(he)尺(chi)寸以及測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)成(cheng)(cheng)本等。涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)一(yi)(yi)般有(you)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)法(fa)(fa)，例(li)如(ru)磁性(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)、渦流(liu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)、超聲波測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)以及千分尺(chi)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)等；此(ci)(ci)外還有(you)破壞(huai)性(xing)(xing)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)法(fa)(fa)，例(li)如(ru)橫斷面(mian)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)法(fa)(fa)和(he)(he)(he)重(zhong)量(liang)(liang)(liang)分析法(fa)(fa)等。對(dui)于粉末(mo)和(he)(he)(he)液體狀(zhuang)(zhuang)涂(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)(tu)料，在(zai)(zai)(zai)(zai)其(qi)干燥固化(hua)前(qian)同樣可(ke)以采(cai)取一(yi)(yi)些方(fang)法(fa)(fa)對(dui)其(qi)薄(bo)膜厚(hou)(hou)(hou)(hou)度進行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。下(xia)面(mian)我們就(jiu)來盤(pan)點一(yi)(yi)下(xia)那些常用(yong)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)儀(yi)(yi)器與(yu)方(fang)法(fa)(fa)。

一、渦流(liu)測厚儀

         渦流測(ce)厚(hou)儀(yi)一般用于測(ce)量位于非鐵金屬基(ji)板上(shang)的絕(jue)緣涂層的厚(hou)度，該(gai)方法(fa)同樣屬于一種測(ce)量法(fa)。

         該(gai)(gai)儀(yi)器(qi)使用能夠(gou)傳(chuan)導(dao)高頻交流(liu)(liu)（1MHz以(yi)(yi)(yi)上(shang)）的(de)細(xi)線(xian)線(xian)圈(quan)在儀(yi)器(qi)探針的(de)表(biao)面產生(sheng)交變磁(ci)(ci)場。當探針靠(kao)近導(dao)電(dian)表(biao)面時，交變磁(ci)(ci)場將(jiang)在該(gai)(gai)表(biao)面上(shang)形成渦流(liu)(liu)。基體(ti)材(cai)料(liao)的(de)特(te)性以(yi)(yi)(yi)及(ji)探頭(tou)(tou)和(he)(he)基體(ti)的(de)距離（也即是涂層厚(hou)(hou)度(du)(du)）會(hui)影響渦流(liu)(liu)的(de)大小。該(gai)(gai)渦流(liu)(liu)又會(hui)產生(sheng)一(yi)(yi)(yi)種相對(dui)電(dian)磁(ci)(ci)場，該(gai)(gai)電(dian)磁(ci)(ci)場可(ke)(ke)由勵磁(ci)(ci)線(xian)圈(quan)或另一(yi)(yi)(yi)個相鄰的(de)線(xian)圈(quan)感(gan)測(ce)出來。渦流(liu)(liu)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)外觀以(yi)(yi)(yi)及(ji)操(cao)作(zuo)均(jun)類似于電(dian)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)(ying)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)。這(zhe)類儀(yi)器(qi)能夠(gou)測(ce)量(liang)非鐵(tie)金(jin)屬(shu)上(shang)的(de)涂層厚(hou)(hou)度(du)(du)。電(dian)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)(ying)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)一(yi)(yi)(yi)樣，其通常使用恒壓探頭(tou)(tou)并(bing)在LCD屏幕上(shang)顯示測(ce)量(liang)結(jie)果。此外，它(ta)們(men)還可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)選(xuan)擇存儲測(ce)量(liang)結(jie)果或者對(dui)讀數(shu)進行(xing)(xing)即時分析(xi)并(bing)輸出到打印機或計(ji)算機進行(xing)(xing)下一(yi)(yi)(yi)步檢查(cha)。測(ce)量(liang)偏差一(yi)(yi)(yi)般為(wei)±1％左右。測(ce)試(shi)對(dui)表(biao)面粗糙度(du)(du)、曲率、基底厚(hou)(hou)度(du)(du)，金(jin)屬(shu)基底材(cai)料(liao)的(de)類型以(yi)(yi)(yi)及(ji)其與邊(bian)緣的(de)距離較為(wei)敏感(gan)。測(ce)試(shi)方(fang)法可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)參考ASTM B 244，ASTM D 7091以(yi)(yi)(yi)及(ji)ISO2360等(deng)標準。現(xian)在，許多測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)都將(jiang)電(dian)磁(ci)(ci)感(gan)應(ying)(ying)原(yuan)理和(he)(he)渦流(liu)(liu)原(yuan)理結(jie)合到一(yi)(yi)(yi)個體(ti)系(xi)中。一(yi)(yi)(yi)些(xie)簡單的(de)測(ce)量(liang)任務可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)根據需求(qiu)自動從一(yi)(yi)(yi)種操(cao)作(zuo)原(yuan)理切換到另一(yi)(yi)(yi)種原(yuan)理以(yi)(yi)(yi)測(ce)量(liang)大多數(shu)金(jin)屬(shu)上(shang)的(de)涂層厚(hou)(hou)度(du)(du)。這(zhe)些(xie)整(zheng)合體(ti)系(xi)已經受到了油漆業和(he)(he)粉末涂布(bu)業的(de)歡迎。

二、超(chao)聲波測厚儀(yi)

         超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)測(ce)厚(hou)儀中所使用的(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)回波(bo)脈(mo)沖技術(shu)一般(ban)(ban)用于(yu)測(ce)量(liang)(liang)非金屬基體(ti)材料(liao)(liao)（例如塑(su)料(liao)(liao)、木材等）表面(mian)上的(de)(de)涂(tu)層厚(hou)度，而且，該方法(fa)(fa)屬于(yu)一種(zhong)測(ce)量(liang)(liang)方法(fa)(fa)，不會對測(ce)量(liang)(liang)樣品造(zao)成損(sun)壞。該儀器的(de)(de)探頭包含一個超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)換能器，能夠發出脈(mo)沖并(bing)通過涂(tu)層。脈(mo)沖然后從基體(ti)材料(liao)(liao)反(fan)射回換能器并(bing)轉換為高(gao)頻電信號(hao)。通過對回波(bo)波(bo)形(xing)進行數字化分析，人們可以知(zhi)道涂(tu)層的(de)(de)厚(hou)度。在(zai)某(mou)些情(qing)況下，利用該儀器還可以測(ce)量(liang)(liang)多層系統中的(de)(de)某(mou)一單層厚(hou)度。該方法(fa)(fa)的(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)標準(zhun)偏差一般(ban)(ban)在(zai)±3%左右，測(ce)量(liang)(liang)方法(fa)(fa)可以參(can)考ASTM D6132標準(zhun)。

三、千(qian)分尺(chi)測厚計(ji)

         人們有時還會(hui)用千(qian)分尺來測量(liang)涂層(ceng)的厚度(du)。它(ta)們具有測量(liang)涂層(ceng)/基體組合的優點(dian)，但缺(que)點(dian)是(shi)需要(yao)接(jie)觸到基底(di)面。

接觸涂(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)(de)上(shang)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)和基底的(de)(de)下表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)有時是(shi)困難(nan)的(de)(de)，并且它們通常不能準確測(ce)量(liang)出某些薄涂(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)(de)厚(hou)度。因此，利用該方法進行兩(liang)次(ci)(ci)測(ce)量(liang)，一次(ci)(ci)是(shi)在含有涂(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)上(shang)進行測(ce)量(liang)，另一次(ci)(ci)則(ze)是(shi)在沒(mei)有涂(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)上(shang)進行測(ce)量(liang)。這兩(liang)個度數的(de)(de)差值，也即是(shi)測(ce)量(liang)的(de)(de)高度差，就是(shi)該涂(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)(de)厚(hou)度大小。在一些粗糙(cao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)上(shang)，該方法一般(ban)在高處測(ce)量(liang)涂(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)(de)厚(hou)度。