在長度計量(liang)中(zhong)必須遵守五大(da)測量(liang)基本原則(ze)：阿(a)貝原則(ze)、最小變形原則(ze)、最短測量(liang)鏈原則(ze)、封(feng)閉原則(ze)和基準(zhun)統一原則(ze)。

—、阿貝原(yuan)則

測(ce)量(liang)(liang)是確(que)定被(bei)測(ce)對(dui)象(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)量(liang)(liang)值而進行的(de)(de)(de)實驗過程，通常選擇比較(jiao)的(de)(de)(de)形(xing)式獲得(de)被(bei)測(ce)對(dui)象(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)量(liang)(liang)值。所謂比較(jiao)的(de)(de)(de)形(xing)式是指被(bei)測(ce)對(dui)象(xiang)(xiang)(xiang)與(yu)(yu)量(liang)(liang)具或儀器(qi)的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)標準(zhun)器(qi)進行比較(jiao)。為(wei)了得(de)到準(zhun)確(que) 的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)結果，德國科學家艾利斯特?阿(a)貝(bei)提出一(yi)個比較(jiao)的(de)(de)(de)形(xing)式，即被(bei)測(ce)對(dui)象(xiang)(xiang)(xiang)與(yu)(yu)測(ce)量(liang)(liang)標準(zhun)器(qi)之間相(xiang)對(dui)位置的(de)(de)(de)原則：測(ce)量(liang)(liang)時被(bei)測(ce)對(dui)象(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)軸(zhou)線與(yu)(yu)標準(zhun)器(qi)軸(zhou)線相(xiang)重合(he)或者在其延長(chang)線上，稱為(wei)阿(a)貝(bei)原則。不符合(he)阿(a)貝(bei)原則而產生(sheng)的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)誤差稱之為(wei)阿(a)貝(bei)誤差。

圖1 — 1為符合(he)阿貝原則(ze)的(de)(de)比較(jiao)(jiao)形式。當標準線(xian)紋(wen)尺(chi)1和(he)被(bei)測線(xian)紋(wen)尺(chi)2作比較(jiao)(jiao)時，如由導軌3產(chan)生(sheng)運動直線(xian)度偏差，而引起讀(du)數顯微鏡傾(qing)斜一個(ge)φ角(jiao)，此時所引起的(de)(de)誤(wu)差：由此可知，在符合(he)阿貝原則(ze)時，受傾(qing)斜角(jiao)φ的(de)(de)影(ying)響，為二次(ci)誤(wu)差。當φ角(jiao)較(jiao)(jiao)小 時，甚至可略去不計。

圖1 — 2為(wei)不符合阿貝原則的(de)比較(jiao)形(xing)式。被測線(xian)紋尺(chi)不在標準線(xian)紋尺(chi)的(de)軸(zhou)線(xian)上, 并聯(lian)布置(zhi)相距為(wei)S,導軌同(tong)樣(yang)產(chan)生運動直線(xian) 度(du)偏差(cha)，傾斜角為(wei)如此時所引(yin)起的(de)誤(wu)差(cha)。

由此可見，不符合(he)阿貝原則時(shi)，被(bei)測軸線與標(biao)準器軸線之(zhi)間距離S越大，其阿貝誤差(cha)越大。在使(shi)用不符合(he)阿貝原則的儀 器進行測量時(shi)，應盡量減少被(bei)測對象與標(biao)準器之(zhi)間軸向平(ping)行距離。

二、最小變形原則

在測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)過(guo)程(cheng)中，由(you)于被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)件(jian)(jian)(jian)自(zi)重、內應(ying)力(li)以及熱(re)膨脹等(deng)因素和接(jie)觸測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)(shi)(shi)所受(shou)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce) 力(li)、接(jie)觸方式(shi)等(deng)影響，被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)件(jian)(jian)(jian)和儀器(qi)的(de)(de)部(bu)分零部(bu)件(jian)(jian)(jian)都會產(chan)生變形(xing)(xing)(xing)而影響測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)結果(guo)(guo)。為保證測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)結果(guo)(guo)的(de)(de)準確度(du)，應(ying)盡(jin)量(liang)減少各種(zhong)因素產(chan)生的(de)(de)變形(xing)(xing)(xing)，這就是最小變形(xing)(xing)(xing)原則。條(tiao)狀工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)由(you)于受(shou)自(zi)重彈性變形(xing)(xing)(xing)的(de)(de)影響，在測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)(shi)(shi)要考慮工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)支(zhi)(zhi)承(cheng)方式(shi)，如圖1 — 3。當(dang)a = 0.220 3L 時(shi)(shi)(shi)，工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)中心軸線上的(de)(de)長度(du)變形(xing)(xing)(xing)最小，該支(zhi)(zhi)承(cheng)點(dian)(dian)稱(cheng)為白(bai)塞爾點(dian)(dian)，一(yi)般(ban)在線紋尺測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)(shi)(shi)采(cai)用(yong) 這種(zhong)支(zhi)(zhi)承(cheng)方式(shi)。當(dang)a = 0.211 3L時(shi)(shi)(shi)，工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)兩端面(mian)平行度(du)變形(xing)(xing)(xing)最小，該支(zhi)(zhi)承(cheng)點(dian)(dian)稱(cheng)為艾利點(dian)(dian)， 一(yi)般(ban)在大(da)尺寸量(liang)塊(kuai)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)(shi)(shi)采(cai)用(yong)的(de)(de)支(zhi)(zhi)承(cheng)方式(shi)。當(dang)a = 0.223 2L時(shi)(shi)(shi)，工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)全長彎(wan)曲變形(xing)(xing)(xing)最小，一(yi)般(ban)在測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)上表(biao)面(mian)形(xing)(xing)(xing)狀誤(wu)差(cha)時(shi)(shi)(shi)采(cai)用(yong)的(de)(de)支(zhi)(zhi)承(cheng)方式(shi)。

三、    最(zui)短(duan)測量鏈原則

若測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)系統由一(yi)系列單(dan)(dan)元(yuan)所(suo)組(zu)成(cheng)(cheng)，從測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)信息的(de)輸入(ru)到量(liang)(liang)值的(de)輸出構成(cheng)(cheng)這(zhe)些單(dan)(dan)元(yuan)。這(zhe) 一(yi)系列單(dan)(dan)元(yuan)所(suo)組(zu)成(cheng)(cheng)的(de)完整(zheng)部(bu)分稱為(wei)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)鏈。例如，在萬能工具顯微鏡上用影像法(fa)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)小于(yu)半(ban)(ban)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)的(de)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)弧(hu)(hu)半(ban)(ban)徑，釆(bian)用弦高法(fa)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。先測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)半(ban)(ban)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)弧(hu)(hu)的(de)弦長(chang)和弦高，再求得半(ban)(ban)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)的(de)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)弧(hu)(hu)半(ban)(ban)徑。測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)半(ban)(ban)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)弧(hu)(hu)的(de)弦長(chang)和弦高為(wei)兩(liang)個測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)單(dan)(dan)元(yuan)，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)半(ban)(ban)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)的(de)圓(yuan)(yuan)(yuan)(yuan)弧(hu)(hu)半(ban)(ban)徑為(wei)一(yi)個測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)鏈。由于(yu)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)鏈的(de)各個環節(jie)不可避免(mian)地引入(ru)誤(wu)差，環節(jie)越(yue)多(duo)(duo)，誤(wu)差越(yue)多(duo)(duo)。為(wei)保證(zheng)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)準確度，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)鏈應為(wei)最短(duan)。

四、    封(feng)閉原則

圓分度(du)(du)的(de)封閉(bi)(bi)特(te)性決定了在(zai)圓分度(du)(du)測(ce)量中(zhong)如(ru)果(guo)能(neng)滿足封閉(bi)(bi)條(tiao)件，則(ze)其相鄰偏差的(de)總和為零(ling)。在(zai)角度(du)(du)測(ce)量中(zhong)更為重要，圓分度(du)(du)盤、多面棱體、多齒(chi)分度(du)(du)臺和四方(fang)體等都具有(you)封閉(bi)(bi)特(te)性。運用(yong)封閉(bi)(bi)原則(ze)，可不需更高(gao)等級的(de)標準(zhun)器，實現自檢(jian)或互檢(jian)。

五、    基準(zhun)統一原則

設(she)計(ji)(ji)基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)、工藝基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)、加工基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)、裝配基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)與(yu)測(ce)量基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)相(xiang)(xiang)一致(zhi)，稱為五基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)統(tong)(tong)一原則。在(zai)工藝設(she)計(ji)(ji)和加工中(zhong)力求達到與(yu)設(she)計(ji)(ji)、裝配基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)相(xiang)(xiang)統(tong)(tong)一，測(ce)量時(shi)也是如此。在(zai)設(she)計(ji)(ji)基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)難以(yi)與(yu)工藝、加工基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)相(xiang)(xiang)統(tong)(tong)一的(de)條件(jian)下，測(ce)量基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)首選與(yu)設(she)計(ji)(ji)基(ji)(ji)(ji)(ji)準(zhun)(zhun)相(xiang)(xiang)統(tong)(tong)一。

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