人們(men)通過測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)得到被測(ce)(ce)(ce)(ce)對(dui)象(xiang)的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)結果，但因測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)不可避免地會有(you)誤差，所以測(ce)(ce)(ce)(ce)得值(zhi)只能在一定(ding)(ding)程(cheng)度上近似它(ta)的(de)真值(zhi)。測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)誤差愈(yu)小，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)準(zhun)確(que)度愈(yu)高。依據(ju)不同的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)參數(shu)和(he)準(zhun)確(que)度要(yao)求(qiu)，選擇不同的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)。在很大(da)程(cheng)度上測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)決(jue)定(ding)(ding)了量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)具或計量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)儀(yi)器(qi)的(de)選擇。由此，測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)過程(cheng)中量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)具和(he)計量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)儀(yi)器(qi)的(de)正確(que)選擇和(he)使(shi)用、被測(ce)(ce)(ce)(ce)對(dui)象(xiang)的(de)結構特性(xing)、測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)定(ding)(ding)位方(fang)式、測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)環境條件等都與測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)準(zhun)確(que)度有(you)關。除測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)、測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)儀(yi)器(qi)設備的(de)選擇外，還有(you)如下(xia)主要(yao)因素(su)影響(xiang)長度測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)(liang)的(de)準(zhun)確(que)度。

一、接觸(chu)測量時接觸(chu)定位方(fang)式的選擇

接(jie)(jie)觸(chu)法測(ce)量(liang)時(shi)，不同(tong)(tong)的(de)(de)被測(ce)對(dui)象應選用(yong)不同(tong)(tong)的(de)(de)測(ce)頭(tou)(tou)或(huo)(huo)(huo)測(ce)帽。為減(jian)少(shao)接(jie)(jie)觸(chu)方式不正確(que)(que)帶(dai) 來(lai)的(de)(de)測(ce)量(liang)不確(que)(que)定度，在選擇測(ce)量(liang)頭(tou)(tou)時(shi)，應盡(jin)可能使測(ce)量(liang)頭(tou)(tou)與被測(ce)件(jian)成點或(huo)(huo)(huo)線接(jie)(jie)觸(chu)。因(yin)此，平(ping)(ping)面形(xing)工(gong)(gong)(gong)件(jian)采用(yong)球面測(ce)頭(tou)(tou)，圓(yuan)柱(zhu)形(xing)工(gong)(gong)(gong)件(jian)釆用(yong)刀口或(huo)(huo)(huo)圓(yuan)柱(zhu)測(ce)頭(tou)(tou)，球面形(xing)工(gong)(gong)(gong)件(jian)采用(yong)平(ping)(ping)面測(ce)頭(tou)(tou)。 因(yin)為測(ce)量(liang)力和接(jie)(jie)觸(chu)的(de)(de)形(xing)式不同(tong)(tong)，對(dui)接(jie)(jie)觸(chu)變(bian)形(xing)的(de)(de)影響也不同(tong)(tong)，所以(yi)在高精度測(ce)量(liang)時(shi)，必須準確(que)(que)選擇測(ce)量(liang)力和測(ce)頭(tou)(tou)工(gong)(gong)(gong)作(zuo)面半徑，并(bing)在測(ce)量(liang)結果中進行接(jie)(jie)觸(chu)變(bian)形(xing)誤差修正。消除或(huo)(huo)(huo)減(jian)少(shao)接(jie)(jie)觸(chu)變(bian)形(xing)誤差有(you)幾種途徑：

(1)在保(bao)證測量(liang)重復(fu)性要求(qiu)的基(ji)礎(chu)上(shang)，盡量(liang)減小(xiao)測量(liang)力。盡可能采(cai)用非接(jie)觸(chu)光(guang)學干涉法、光(guang)電瞄準裝置或片(pian)簧結構裝置。

(2)在比較法測量時，使測量力保持恒定。用重(zhong)錘形式比彈簧形式更優越。

(3)尋找合適的測量方法，使選擇(ze)的標準器材(cai)料(liao)與(yu)被測件相同(tong)，其(qi)材(cai)料(liao)的彈(dan)性(xing)變形(xing)也相同(tong)，可消除或減(jian)少(shao)測量結果的接觸變形(xing)誤差。

(4)工件裝夾(jia)固(gu)定時，盡量減少裝夾(jia)變(bian)形(xing)。

二、 溫度對測量結果的(de)影響

溫(wen)(wen)度(du)變化(hua)也是(shi)產生變形(xing)的(de)(de)主要(yao)因(yin)素。量具、儀(yi)(yi)(yi)器和(he)(he)工(gong)件在(zai)測量前必(bi)須有一段時(shi)(shi)間在(zai)規(gui) 定(ding)的(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)范圍內等溫(wen)(wen)。測量過(guo)程中環境溫(wen)(wen)度(du)波動要(yao)小，必(bi)須恒定(ding)在(zai)規(gui)定(ding)的(de)(de)范圍內；盡可能不直(zhi)接(jie)用(yong)(yong)(yong)手(shou)(shou)接(jie)觸(chu)量具、儀(yi)(yi)(yi)器和(he)(he)工(gong)件。在(zai)高精度(du)測量時(shi)(shi)，還(huan)需將人與(yu)儀(yi)(yi)(yi)器隔(ge)(ge)離。如接(jie)觸(chu)式干(gan)涉儀(yi)(yi)(yi)使用(yong)(yong)(yong)時(shi)(shi)，需用(yong)(yong)(yong)隔(ge)(ge)離屏將人的(de)(de)呼吸與(yu)儀(yi)(yi)(yi)器隔(ge)(ge)離，操作時(shi)(shi)帶手(shou)(shou)套，測量時(shi)(shi)用(yong)(yong)(yong)導熱系(xi)數低的(de)(de)木夾子(zi)夾帶工(gong)件。對(dui)于(yu)高等級的(de)(de)量塊、線(xian)紋尺(chi)除有很高的(de)(de)環境要(yao)求外還(huan)要(yao)對(dui)其溫(wen)(wen)度(du)進(jin)行測量并加(jia)以(yi)修正。在(zai)比較測量時(shi)(shi)，由于(yu)標準(zhun)器的(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)和(he)(he)膨脹系(xi)數與(yu)被測件的(de)(de)溫(wen)(wen)度(du)和(he)(he)膨脹系(xi)數 不一致引起(qi)的(de)(de)測量誤差為

尺寸測(ce)量(liang)可隨溫度變(bian)化，形(xing)狀、位置測(ce)量(liang)也是如(ru)此。例如(ru)，夏季平晶(jing)從(cong)室外(wai)進入(ru)實驗 室立(li)即測(ce)量(liang)，平晶(jing)因(yin)受(shou)環(huan)境溫度影響，平晶(jing)的外(wai)表面收縮(suo)快；而中(zhong)央部位收縮(suo)較(jiao)慢，使平晶(jing)的工作面變(bian)凸。

三、    正確選擇測(ce)量(liang)基(ji)面(mian)

測量(liang)(liang)基(ji)(ji)面為(wei)測量(liang)(liang)基(ji)(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)的(de)表面，測量(liang)(liang)時要正確(que)選(xuan)擇被測件的(de)一個(ge)合適的(de)幾何要素(su)(點(dian)、 線或面)作為(wei)測量(liang)(liang)基(ji)(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)。基(ji)(ji)面選(xuan)擇時必須遵守(shou)基(ji)(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)統一原(yuan)(yuan)則(ze)。但有(you)時加工(gong)過程中由(you)于種(zhong)種(zhong)原(yuan)(yuan)因使得工(gong)藝基(ji)(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)不能和設(she)計(ji)(ji)基(ji)(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)重合，而(er)測量(liang)(liang)時難(nan)以(yi)選(xuan)擇設(she)計(ji)(ji)基(ji)(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)為(wei)測量(liang)(liang)基(ji)(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)。其具(ju)體 遵守(shou)的(de)原(yuan)(yuan)則(ze)如下：

(1)在工(gong)序間檢驗時，測量基(ji)(ji)面與工(gong)藝(yi)基(ji)(ji)面一(yi)致。

(2)在(zai)終結(jie)檢驗時，測量基面與裝配基面一(yi)致。

測量(liang)基面的更(geng)換(huan)，不免產生測量(liang)誤差。更(geng)換(huan)后測量(liang)基面稱之(zhi)為(wei)輔助基面，選擇(ze)原(yuan)則(ze) 如(ru)下(xia)：

(1)形(xing)狀誤差較小(xiao)和尺寸精(jing)度(du)較高的加工面作(zuo)輔助(zhu)基面。

(2)無合適的加(jia)工(gong)面(mian)，應(ying)事先加(jia)工(gong)輔(fu)助基(ji)面(mian)作測量(liang)基(ji)面(mian)，以(yi)保證測量(liang)的穩定性。

(3)在被測(ce)參數(shu)較(jiao)多的(de)情況(kuang)下，應該在精度(du)大致相(xiang)同的(de)情況(kuang)下，選擇各(ge)參數(shu)之間關系(xi) 較(jiao)密(mi)切，便于控制各(ge)參數(shu)的(de)這一加工面(mian)(mian)為輔助(zhu)基面(mian)(mian)。

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