概述簡介(jie):
普天同創(深圳)科技有限(xian)公司 為掃描電鏡客戶定(ding)制放(fang)大倍率標(biao)準樣品。標(biao)樣基質材料為單晶(jing)硅或(huo)石英玻璃基片,材料性(xing)質穩定(ding)。由德國聯邦(bang)物理研究(jiu)所(PTB)對線距均(jun)勻性進行測(ce)量認證。測(ce)量結果可直接(jie)溯源至米(mi)定義計量基準。
規格尺寸:
5mm×5mm×0.5mm(長(chang)×寬(kuan)×厚)
產品描述:
○. 主體圖形為(wei)一“回”字形方框,分為(wei)4個(ge)象限,X、Y軸(zhou)上為垂直坐標軸(zhou)方向(xiang)的線(xian)距20μm的短平行線(xian)條,
○. 4個象限上分別是線(xian)距(ju)為40μm、20μm、10μm的方格網狀(zhuang)圖(tu)形(xing)和線(xian)距(ju)為5μm的X、Y雙(shuang)向(xiang)平行線(xian)條(tiao)圖(tu)形(xing)。
○. 內框中部(bu)又(you)是“回”字形方(fang)(fang)框,大(da)(da)(da)框和(he)小(xiao)框之(zhi)間在X方(fang)(fang)向和(he)Y方(fang)(fang)向上(shang)都(dou)有線(xian)(xian)距為5μm的(de)(de)平行線(xian)(xian)條,小(xiao)框里(li)面是線(xian)(xian)距為1μm或0.5μm的(de)(de)X、Y雙(shuang)向平行線(xian)(xian)條圖(tu)形(如圖(tu))。在5μm和(he)1μm或0.5μm的(de)(de)線(xian)(xian)距結構(gou)上(shang)還(huan)有一些十字形和(he)圓點(dian),可用于在較大(da)(da)(da)放大(da)(da)(da)倍率下圖(tu)像的(de)(de)聚集(ji)和(he)像散調(diao)整。不(bu)同的(de)(de)線(xian)(xian)距大(da)(da)(da)小(xiao)可用于從10×~100,000×放大(da)(da)(da)倍率范圍的(de)(de)校準,而把40μm、20μm和(he)10μm的線距結構設計成方(fang)格形,是為(wei)了(le)在對放大倍率進行準(zhun)確校(xiao)準(zhun)的同時,可以對圖像的畸變、像散等進行校(xiao)驗, 5μm和1μm/0.5μm的(de)線距結構也(ye)同時(shi)(shi)具有X、Y兩(liang)個方向的(de)平行(xing)線條,是(shi)為(wei)了方便(bian)同時(shi)(shi)對X、Y兩(liang)個方向進行(xing)放大(da)倍率的(de)校準而不必機械旋轉標準器。
主要用(yong)途:
○. 可用于同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進行檢查或校正,是校準從10×~100,000×范圍的圖像放大倍率的最有效的圖形標準樣品○. 利用標樣上的“點子”圖像,可對電子束作漂移檢驗和樣品臺復位檢驗
使用方(fang)法:
○. 盡量使用較低的工作電壓,如5KeV或更低○. 可以直接參照標樣說明書的那八張相近圖像進行測量
注意事項:
使用前應(ying)認真(zhen)檢查標準樣品(pin)表面有無污染物和損壞,因為這會影(ying)響(xiang)校準。請勿使用已破(po)損或有污染物的標準(zhun)樣品!可用(yong)清潔干燥的(de)空(kong)氣或氮氣清除標(biao)準樣(yang)品上(shang)的(de)灰塵(chen)、碎片或其(qi)他污染(ran)物,注意不要損壞標(biao)準樣(yang)品。有(you)條件的(de)實(shi)驗室應不定期地(di)通過與其他(ta)標準樣(yang)品的(de)對比(bi)來檢(jian)查標準樣(yang)品的(de)特性和用法來確定其檢(jian)查頻(pin)率。