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         GWB-200JA型引伸(shen)計標定儀(yi)是一種純(chun)機械(xie)式的(de)(de)(de)高精度位移(yi)測微儀(yi)器。依據(ju)JJG762－2007引伸(shen)計檢(jian)定規(gui)程(cheng)要求，專(zhuan)門用(yong)于(yu)對各類引伸(shen)計的(de)(de)(de)標定，也(ye)廣泛用(yong)于(yu)位移(yi)傳感器的(de)(de)(de)檢(jian)定及相應百分(fen)表(biao)、千分(fen)表(biao)的(de)(de)(de)檢(jian)定。

        GWB-200JA型引伸計標定儀各項技術精度指標：

         1、測(ce)量引伸計標距(ju)范圍Ｌmax 500 ㎜

         2、測(ce)量支座上支臂安(an)裝孔徑 φ10；φ28

        3、微分測頭讀數(shu)內筒軸向(xiang)刻(ke)度 0.5 ㎜/格

        4、微分測頭(tou)讀數內筒游標刻(ke)度 0.0002 ㎜/格

        5、微分測頭讀(du)數外筒園周刻(ke)度 0.002 ㎜/格

        6、高精(jing)密微分測頭精(jing)度(du)指(zhi)標

        標定儀示值誤差：

        量程 0.5 ㎜以內≤0.5μm 絕對誤差(cha)

        量程 0.5 ㎜以上(shang)≤0.10% 逐點相對誤差(cha)

        參照標準：

        JJF1096-2002 引(yin)伸計標定器校準規(gui)范

         ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用(yong)引伸計(ji)標定

        JJG762-2007 引伸(shen)計檢定(ding)規程

        可(ke)進(jin)行 0.5 級引伸計的標定

        目(mu)前，我司自主(zhu)研(yan)發的GWB-200JA型高精度引伸計標定儀(yi)已成功申請到由國家知識產權(quan)局頒發的實用新(xin)型專利證書(shu)。這不僅是對我們(men)專業技術的肯(ken)定，更給(gei)予我們(men)強大的信心，我們(men)立志于研(yan)發出(chu)更加(jia)精準、精密(mi)的儀(yi)器設備，全方位支持各類檢測(ce)項目(mu)。