涂(tu)層測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀也叫(jiao)做(zuo)膜(mo)(mo)厚(hou)(hou)儀、鍍層測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀或者漆膜(mo)(mo)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀，不同類(lei)型的測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀可以(yi)通過(guo)磁性法、渦流法、超聲波法、電解法(fa)、放射法(fa)來檢測金屬基材表面的涂(tu)鍍層的厚(hou)度，不(bu)(bu)同測厚(hou)儀應用于原理不(bu)(bu)一樣，測量(liang)的精度也是有所(suo)有差異的。
常見的涂層(ceng)測厚(hou)儀(yi)測量(liang)功能不(bu)同(tong)，可以(yi)分(fen)(fen)為鐵基涂層(ceng)測厚(hou)儀(yi)、鋁基涂層(ceng)測厚(hou)儀(yi)、兩用涂層(ceng)測厚(hou)儀(yi)，再根據探頭的形式(shi)，可以(yi)分(fen)(fen)為一體(ti)式(shi)和分(fen)(fen)體(ti)式(shi)。
雖然不(bu)同涂層測厚儀測量的原理不(bu)同，不(bu)過基本操作區別并不(bu)大，簡單(dan)方便(bian)。
1. 開(kai)機：開(kai)關(guan)鍵(jian)一(yi)鍵(jian)開(kai)關(guan)機
2. 校(xiao)準：可采(cai)用單(dan)點(dian)校(xiao)準或多點(dian)校(xiao)準
3. 進行測量(liang)(liang)：校準完成后則可以進行測量(liang)(liang)了，可選(xuan)擇單次測量(liang)(liang)或多(duo)次測量(liang)(liang)。
使用須(xu)知：
1. 若測量過程中測頭放置(zhi)不穩，會引起測量值與實(shi)際值偏差較大
2. 如果已經進(jin)行(xing)了適當的校準，所(suo)有(you)的測量值將(jiang)保(bao)持在(zai)一(yi)定的誤差范圍內；
3. 儀器的(de)任何一個測量值(zhi)都是五次(ci)看不見的(de)測量平均值(zhi)；
4. 可在一個點(dian)多次測(ce)量，并計(ji)算其平均值作為最終的測(ce)量結(jie)果，保證(zheng)測(ce)量更加(jia)精確(que)；
5. 顯示測量結果后，一(yi)定要(yao)提起(qi)測頭至距離工件10mm以上，才可以進(jin)行(xing)下次測量。
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