下(xia)面是露(lu)點儀(yi)測量方法的詳(xiang)細介紹

1.重量法：

        讓所(suo)測樣氣(qi)(qi)流經(jing)某一干(gan)(gan)燥劑，其所(suo)含水分被干(gan)(gan)燥劑吸(xi)收(shou)，精確(que)稱取干(gan)(gan)燥劑吸(xi)收(shou)的水分含量，與樣氣(qi)(qi)體積之比(bi)即(ji)為樣氣(qi)(qi)的濕度(du)。該方法的優點是精度(du)高，最大允許誤差(cha)可達0.1%;缺點是具體操作(zuo)比較困(kun)難，尤其是必(bi)須(xu)得到(dao)足夠量的(de)吸(xi)收水質量(一(yi)般(ban)不(bu)小于0.6克)，這對于(yu)低濕度(du)氣體(ti)尤其(qi)困難(nan)，必須加大樣氣流(liu)量，結果會導(dao)致測量時間(jian)和誤差增大(測得的(de)濕度不是瞬時值)。因而該方法只適合于測(ce)量露點-32℃以上(shang)的(de)氣(qi)體。

2.振動頻率法：

        就(jiu)是(shi)將重(zhong)量法中的(de)(de)干燥劑換用(yong)一種吸濕性的(de)(de)石英(ying)晶(jing)(jing)體(ti)，根據(ju)該晶(jing)(jing)體(ti)吸收水分質量不(bu)同時振(zhen)(zhen)動頻(pin)率不(bu)同的(de)(de)特點(dian)，讓樣氣(qi)和標準干燥氣(qi)流經(jing)該晶(jing)(jing)體(ti)，因而產生不(bu)同的(de)(de)振(zhen)(zhen)動頻(pin)率差△f1和△f2，計算兩頻率之差即可得到樣(yang)氣(qi)的濕度。

3.冷鏡法：

 ;       讓樣(yang)氣(qi)流經露(lu)點冷鏡(jing)室的冷凝鏡(jing)，通過(guo)等壓制冷，使得樣(yang)氣(qi)達到(dao)飽和結露(lu)狀態(冷凝(ning)鏡上有液滴(di)析出)，測(ce)(ce)量(liang)冷(leng)凝(ning)鏡此(ci)時(shi)的溫(wen)度(du)即是(shi)(shi)樣氣的露點。該方法的主要優(you)點是(shi)(shi)精(jing)度(du)高，尤其在采用半導(dao)體制冷(leng)和光電檢測(ce)(ce)技術后(hou)，不(bu)確定度(du)甚至可達0.1℃;缺(que)點是(shi)響(xiang)應速度較(jiao)慢(man)，尤其(qi)在露點-60℃以下，平衡時(shi)間甚(shen)至達幾個小時(shi)，而且(qie)此(ci)方(fang)法對樣氣的(de)清(qing)潔性(xing)和腐(fu)蝕(shi)性(xing)要求也較高，否則會影(ying)響光(guang)電檢(jian)測效果或產(chan)生'偽結露'造成測量誤差。

 4.電解法(fa)：

        就是將(jiang)干燥劑吸收的(de)(de)水(shui)分經(jing)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)解池電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)解成(cheng)氫氣(qi)和氧氣(qi)排出(chu)，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)解電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流的(de)(de)大(da)小與水(shui)分含量(liang)成(cheng)正(zheng)比，通過(guo)檢測(ce)該(gai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流即可(ke)測(ce)得(de)樣氣(qi)的(de)(de)濕度(du)。該(gai)方法彌(mi)補了重(zhong)量(liang)法的(de)(de)缺點，測(ce)量(liang)量(liang)程可(ke)達(da)-80℃以下，且精度(du)較好(hao)，價格(ge)便宜;缺點(dian)是電(dian)解池氣路需(xu)要在使用前干燥很長時間，且對氣體的(de)腐蝕性及清(qing)潔性要求(qiu)較高(gao)。

5.阻容法(fa)：

        利用一(yi)個高純鋁(lv)(lv)(lv)棒，表面氧化(hua)成一(yi)層超(chao)薄(bo)(bo)的(de)(de)氧化(hua)鋁(lv)(lv)(lv)薄(bo)(bo)膜(mo)，其(qi)外鍍一(yi)層多空的(de)(de)網狀金膜(mo)，金膜(mo)與鋁(lv)(lv)(lv)棒之間形成電(dian)容，由于氧化(hua)鋁(lv)(lv)(lv)薄(bo)(bo)膜(mo)的(de)(de)吸水(shui)特性，導致電(dian)容值隨樣(yang)氣水(shui)分(fen)的(de)(de)多少而(er)改變，測量(liang)該電(dian)容值即(ji)可(ke)得到樣(yang)氣的(de)(de)濕度(du)。該方(fang)法的(de)(de)主要優(you)點是測量(liang)量(liang)程可(ke)更低，甚至達-100℃，另一突出(chu)優點是(shi)響應速度非(fei)常快，從干到濕響應一分鐘(zhong)可達90%，因(yin)而多用于現(xian)場和快(kuai)速測(ce)量場合;缺(que)點是精度較差(cha)，不確(que)定度多(duo)為±2~3℃。老化和(he)漂移(yi)嚴重(zhong)，使用3~6個(ge)月必須校準(zhun)。

        鏡面(mian)污(wu)染(ran)對露點(dian)測(ce)量的(de)影(ying)響(xiang)。在露(lu)點(dian)測量中，鏡面污染(ran)是一(yi)個突出的問題，其影響(xiang)主(zhu)要表(biao)現(xian)兩個方面;一是(shi)拉(la)烏爾(er)效應，二(er)是(shi)改變(bian)鏡面(mian)本底放射水平。拉(la)烏爾(er)效應是(shi)由水溶性(xing)物(wu)質造(zao)成的。如(ru)果被測(ce)氣(qi)體中(zhong)攜帶這(zhe)種(zhong)物(wu)質(一般是可溶性鹽類)則鏡(jing)面提前結露(lu)，使(shi)測量結果產生正偏差。若污染物是不溶于水(shui)的微(wei)粒，如(ru)灰塵等，則會增加本底的散射水(shui)平，從而使(shi)光電露(lu)點(dian)儀發生零點(dian)漂移。此外，一些(xie)沸點(dian)比水(shui)低(di)的容易(yi)冷凝(ning)的物質(例如(ru)有機(ji)物(wu))的(de)蒸氣，不言而喻將對露點(dian)的(de)測量產生干(gan)擾(rao)。因此，無論(lun)任何一種類(lei)型(xing)的(de)露點(dian)儀都應防止污(wu)染(ran)(ran)鏡面。一般說來，工(gong)業流程(cheng)氣體(ti)分析(xi)污(wu)染(ran)(ran)的(de)影(ying)響(xiang)是比較嚴(yan)重的(de)。但即(ji)使(shi)是在純氣的(de)測量中鏡面的(de)污(wu)染(ran)(ran)亦會(hui)隨時間增(zeng)加而積累。