對材料表面起保(bao)護，裝飾(shi)作(zuo)用(yong)的(de)覆(fu)(fu)蓋層，如涂層，鍍層，敷層，貼層，化學生成膜(mo)等，在一些標準中稱為覆(fu)(fu)層。覆層厚度測量已成(cheng)為加工(gong)工(gong)業(ye)、表面(mian)工(gong)程質(zhi)量檢測的環(huan)節，是產(chan)品(pin)達到(dao)質(zhi)量標(biao)準(zhun)的。為使產(chan)品(pin)標(biao)準(zhun)化，商品(pin)和(he)涉外(wai)項(xiang)目中，對(dui)覆層厚度有了明確要求。

        覆層厚度(du)的測量方法(fa)(fa)主要(yao)有：楔切法(fa)(fa)，光截(jie)法(fa)(fa)，電解法(fa)(fa)，厚度(du)差測量法(fa)(fa)，稱重法(fa)(fa)，X射(she)線熒光法(fa)，β射(she)線反向散射(she)法(fa)，電容法(fa)、磁(ci)性測(ce)量(liang)法(fa)及(ji)渦(wo)流測(ce)量(liang)法(fa)等(deng)等(deng)。這(zhe)些方法(fa)中(zhong)前五種(zhong)是有損檢(jian)測(ce)，測(ce)量(liang)手段繁瑣，速度慢，多(duo)適用(yong)于抽樣(yang)檢(jian)驗。

        X射(she)線(xian)和β射(she)線(xian)法是(shi)無接(jie)觸(chu)測(ce)量，但裝置(zhi)復雜昂貴，測(ce)量范圍較小。因有放(fang)射(she)源(yuan)，使用者遵守射(she)線(xian)防(fang)護規范。X射線(xian)法可測薄鍍(du)(du)層、雙鍍(du)(du)層、合金鍍(du)(du)層。β射線(xian)法適合鍍(du)(du)層和底材(cai)原子(zi)序號(hao)大于3的(de)鍍層測量。電(dian)容(rong)法(fa)在薄導電(dian)體的(de)絕(jue)緣覆層測厚時采用。隨著日益進步，近年(nian)來引入微(wei)機技術(shu)后，采用磁性(xing)法(fa)和渦(wo)流法(fa)的測厚儀(yi)向微(wei)型、多功能化(hua)的方向進了一步。測量的分(fen)辨率已達(da)0.1微(wei)米，精(jing)度(du)可達(da)到1%，有了大幅度(du)的提高。它適用范圍廣，量程(cheng)寬、操作(zuo)簡便且價廉，是(shi)工(gong)業和科研使用測厚儀器。采用(yong)方(fang)法既不破壞覆(fu)層也不破壞基材(cai)，檢(jian)測(ce)速(su)度(du)快(kuai)，能使大量(liang)的檢(jian)測(ce)工作經濟地進行。

一． 磁吸力測量原理及測厚儀

        磁(ci)鐵（測頭）與(yu)導(dao)磁(ci)鋼(gang)材之間的(de)(de)吸(xi)力大小與(yu)處于這兩者之間的(de)(de)距離(li)成(cheng)一定比(bi)例關系，這個距離(li)就是覆(fu)層的(de)(de)厚(hou)度。利用這一原理制成(cheng)測厚(hou)儀，只要覆(fu)層與(yu)基材的(de)(de)導(dao)磁(ci) 率之差足(zu)夠大，就可進行測量。鑒于大多數工業品采(cai)用結(jie)構鋼和熱軋冷軋鋼板(ban)沖壓成型，所以磁性測厚儀應用廣。測厚儀基(ji)本結(jie)構由磁鋼，接力簧，標(biao)尺及自停機 構組成(cheng)。磁(ci)鋼與被(bei)測物吸合(he)后(hou)，將測量簧(huang)在其后(hou)逐漸(jian)拉(la)長，拉(la)力(li)逐漸(jian)增大(da)。當拉(la)力(li)剛(gang)好大(da)于吸力(li)，磁(ci)鋼脫(tuo)離的(de)(de)(de)一瞬間記(ji)錄下拉(la)力(li)的(de)(de)(de)大(da)小獲得覆層(ceng)厚度。產(chan)品可以自動完成(cheng)這一記(ji)錄過程(cheng)。不(bu)同的(de)(de)(de)型(xing)號有不(bu)同的(de)(de)(de)量程(cheng)與適(shi)用(yong)場合(he)。

        這種儀器的特點(dian)是(shi)操(cao)作簡便、不用電源，測量(liang)前無須校準，價格也較低(di)，很適合車間做現場(chang)質(zhi)量(liang)控(kong)制(zhi)。

二． 磁感應測量原理

        采用磁(ci)(ci)感應(ying)原理時(shi)，利用從測頭經(jing)過非鐵(tie)磁(ci)(ci)覆層(ceng)而(er)流入鐵(tie)磁(ci)(ci)基(ji)體的磁(ci)(ci)通的大小(xiao)，來測定(ding)覆層(ceng)厚(hou)度。也可以測定(ding)與之對應(ying)的磁(ci)(ci)阻的大小(xiao)，來表示其(qi)覆層(ceng)厚(hou)度。覆層(ceng)越厚(hou)， 則(ze)磁阻越大，磁通(tong)越小。利用磁感應原(yuan)理的測厚儀，原(yuan)則(ze)上可(ke)以有導磁基體(ti)上的非(fei)導磁覆層(ceng)厚度(du)。一般要求基材導磁率在500以(yi)上。如果覆層材(cai)料也有磁(ci)性，則(ze)要 求(qiu)與基材(cai)的(de)(de)導磁(ci)率(lv)之差大(da)(da)（如鋼上鍍鎳(nie)）。當軟芯上繞著線圈的(de)(de)測(ce)(ce)頭放(fang)在被(bei)測(ce)(ce)樣本(ben)上時，儀(yi)器自動(dong)輸出(chu)測(ce)(ce)試電流或測(ce)(ce)試信號。早期的(de)(de)產品采用(yong)(yong)指針式表頭，測(ce)(ce)量 感(gan)應電動(dong)勢的(de)(de)大(da)(da)小，儀(yi)器將該信號放(fang)大(da)(da)后來指示(shi)覆層厚(hou)度(du)。近年來的(de)(de)電路設計(ji)引(yin)入(ru)穩頻、鎖(suo)相、溫度(du)補(bu)償(chang)等地(di)新技術，利用(yong)(yong)磁(ci)阻來調(diao)制(zhi)測(ce)(ce)量信號。還采用(yong)(yong)設計(ji)的(de)(de) 集成電路，引(yin)入(ru)微機，使測(ce)(ce)量精度(du)和(he)重(zhong)現性有了(le)大(da)(da)幅(fu)度(du)的(de)(de)提高（幾乎達一個數量級）。現代的(de)(de)磁(ci)感(gan)應測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)，分辨率(lv)達磁(ci)感(gan)應測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)_電渦流(liu)測量原理_磁吸力(li)測量原(yuan)理及(ji)測厚儀_電渦流(liu)原理的測厚儀到0.1um，允許誤差達1%，量程達(da)10mm。

        磁性原(yuan)理測厚儀可應(ying)用來測量(liang)鋼(gang)鐵表面的(de)油漆層(ceng)(ceng)，瓷、搪瓷防護層(ceng)(ceng)，塑料、橡(xiang)膠覆層(ceng)(ceng)，包括鎳鉻在內的(de)有色金屬(shu)電鍍層(ceng)(ceng)，以及化工(gong)石油待業的(de)防腐涂層(ceng)(ceng)。

三． 電渦流測量原理

        高頻交流信號在 測(ce)頭(tou)線圈中產生電(dian)磁場，測(ce)頭(tou)靠近(jin)導(dao)體時，就(jiu)在其中形成渦流。測(ce)頭(tou)離導(dao)電(dian)基體越近(jin)，則渦流越大，反射阻抗也越大。這(zhe)個反饋作用量表征了(le)測(ce)頭(tou)與(yu)導(dao)電(dian)基體之(zhi)間距 離的(de)大小，也(ye)就是導電(dian)基(ji)體上非導電(dian)覆(fu)層厚度的(de)大小。由于這類測頭測量非鐵磁金屬(shu)基(ji)材上的(de)覆(fu)層厚度，所以通常稱之為(wei)非磁性測頭。非磁性測頭采用(yong)高頻材料(liao) 做線圈(quan)鐵芯，例如(ru)鉑鎳(nie)合金(jin)或其它新材(cai)料。與磁(ci)感(gan)應原理(li)比較，主(zhu)要區別是測(ce)(ce)頭不(bu)同，信(xin)號的頻率(lv)不(bu)同，信(xin)號的大小、標度關系不(bu)同。與磁(ci)感(gan)應測(ce)(ce)厚儀一樣，渦流測(ce)(ce) 厚儀也達到了(le)分(fen)辨率0.1um，允(yun)許(xu)誤差1%，量程(cheng)10mm的(de)高水平。

        采用(yong)電(dian)(dian)渦流原理的測厚儀，原則上對(dui)導電(dian)(dian)體上的非導電(dian)(dian)體覆層(ceng)(ceng)(ceng)均可測量，如器表面、車輛、家電(dian)(dian)、鋁(lv)合(he)金門窗及其它鋁(lv)制品(pin)表面的漆，塑(su)料涂(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)及陽(yang)極氧化膜。覆層(ceng)(ceng)(ceng)材料有一定的導電(dian)(dian)性(xing)，通過校(xiao)準同樣也(ye)可測量，但要求(qiu)兩者的導電(dian)(dian)率之比至(zhi)少(shao)相差3-5倍（如(ru)銅上鍍(du)鉻）。雖然鋼(gang)鐵基(ji)體亦為導電體，但這(zhe)類任務還是采用磁性(xing)原理(li)測(ce)量。