涂層測(ce)厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非(fei)磁性金屬基體（如(ru)銅、鋁(lv)、鋅、錫(xi)等(deng)）上非(fei)導(dao)電覆(fu)層的(de)厚度（如(ru)：琺瑯(lang)、橡膠、油漆、塑料等(deng)）。但在使用過程中某些因(yin)素可(ke)能會影響其測量(liang)精度，下(xia)面簡要介紹一(yi)下(xia)可(ke)能影響涂(tu)層測(ce)厚儀(yi)測(ce)量精度的一些因素。

        基體(ti)金屬磁化：磁(ci)性法測量受基體金屬磁(ci)性變化的(de)影(ying)響(xiang)（在實際應用中，低碳鋼磁(ci)性的(de)變化可(ke)以認(ren)為是輕微的(de)）。為了避(bi)免熱處理、冷加(jia)工等因(yin)素的(de)影(ying)響(xiang)，應使用與鍍件(jian)金屬具(ju)有相(xiang)同性質的(de)鐵(tie)基片上對儀器進(jin)行校對。

        基體金(jin)屬厚度：每一(yi)種(zhong)儀器(qi)都有一(yi)個基體金屬的臨界厚(hou)度(du)，大于這(zhe)個厚(hou)度(du)測量就不受(shou)基體厚(hou)度(du)的影響。

        邊緣效應：本儀器對(dui)試片表面形(xing)狀(zhuang)的陡變敏感(gan)，因此在靠近試片邊緣或內轉角處(chu)進行測量是(shi)不(bu)可(ke)靠的。

        曲率：試件的曲(qu)率(lv)對測量有影響(xiang)，這(zhe)種影響(xiang)是(shi)隨(sui)著(zhu)曲(qu)率(lv)半(ban)徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許(xu)的曲(qu)率(lv)半(ban)徑的彎曲(qu)面上測量。

        表面(mian)粗糙度：基(ji)體金屬和表面粗糙度對測(ce)量有影(ying)響(xiang)(xiang)。粗糙度增大，影(ying)響(xiang)(xiang)增大。粗糙表面會引(yin)起系統誤(wu)(wu)差和偶然誤(wu)(wu)差。每次測(ce)量時(shi)，在不同位置(zhi)上增加(jia)測(ce)量的次數，克服這種偶然誤(wu)(wu)差。如果(guo)基(ji)體金屬粗(cu)糙還(huan)必(bi)須在(zai)未(wei)涂覆(fu)的(de)粗(cu)糙相類(lei)似(si)的(de)基(ji)體金屬試件上取幾個位置(zhi)校對儀器的(de)零點(dian)；或(huo)用沒有腐(fu)蝕性(xing)的(de)溶液除去在(zai)基(ji)體金屬上的(de)覆(fu)蓋層，再校對儀器零點(dian)。

        磁(ci)場：周圍各種電氣設(she)備所產生的(de)強磁場，會嚴重(zhong)地(di)干擾磁性測量厚度的(de)工作。

        附著物質：本儀(yi)器對那些妨礙探(tan)頭(tou)與(yu)覆蓋層表面緊(jin)密接(jie)觸的(de)附著(zhu)物質敏感。因此必須清除(chu)附著(zhu)物質，以保證探(tan)頭(tou)與(yu)覆蓋層表面直(zhi)接(jie)接(jie)觸。

        探頭(tou)的放(fang)置：探頭(tou)的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭(tou)與試樣表(biao)面保持(chi)垂(chui)直。

        試(shi)片(pian)的(de)變形：探頭使軟覆蓋層試(shi)件(jian)變形，因此在這些試(shi)件(jian)上會出現(xian)不太(tai)可(ke)靠的(de)數據。

        讀數次數：通(tong)常儀(yi)器的每次讀數(shu)并不完全相同。因此必須(xu)在每一測(ce)量面積內取幾個(ge)測(ce)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內進行測(ce)量，表面粗(cu)糙時(shi)更(geng)應如此。

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