涂(tu)層厚(hou)度(du)(du)是衡量(liang)(liang)(liang)涂(tu)層質量(liang)(liang)(liang)的(de)(de)(de)重(zhong)要(yao)標(biao)志之一(yi)，在(zai)產品質量(liang)(liang)(liang)、過程控制和(he)成本控制中(zhong)都發揮著重(zhong)要(yao)的(de)(de)(de)作用(yong)。涂(tu)層的(de)(de)(de)厚(hou)度(du)(du)在(zai)很大程度(du)(du)上影響著產品的(de)(de)(de)可靠性和(he)使(shi)用(yong)價值。通過對涂(tu)層厚(hou)度(du)(du)的(de)(de)(de)檢測，除了評(ping)定有公差指標(biao)或修復(fu)尺(chi)寸要(yao)求的(de)(de)(de)工(gong)件是否(fou)合(he)理外，還能直接(jie)或間(jian)接(jie)的(de)(de)(de)評(ping)估涂(tu)層的(de)(de)(de)耐蝕性、耐磨性等性能。因此(ci)它在(zai)涂(tu)層質量(liang)(liang)(liang)檢驗和(he)工(gong)藝(yi)研(yan)究中(zhong)被普遍采用(yong)。

在彩涂(tu)板生(sheng)產過(guo)程中，必須準確測(ce)量(liang)出涂(tu)層(ceng)厚度(du)，其目的是保(bao)證涂(tu)覆涂(tu)層(ceng)達到規定的厚度(du)，避免由于不(bu)適當厚度(du)導致涂(tu)層(ceng)過(guo)早失(shi)效或因(yin)涂(tu)層(ceng)過(guo)厚帶來(lai)涂(tu)料(liao)的過(guo)多損(sun)耗及成本的增加。為了不(bu)破壞涂(tu)層(ceng)表(biao)面(mian)結構(gou)，建(jian)立保(bao)持(chi)統(tong)一的標(biao)準，就(jiu)需要對涂(tu)層(ceng)厚度(du)檢(jian)測(ce)進行(xing)規范，根據相關標(biao)準，適用涂(tu)層(ceng)測(ce)厚儀(yi)來(lai)進行(xing)測(ce)量(liang)。

現在，人員可以(yi)利用許(xu)多不同(tong)種(zhong)類的儀器和方法(fa)來測(ce)量(liang)涂(tu)(tu)層(ceng)或薄膜的厚度。而(er)在選取(qu)測(ce)量(liang)方法(fa)時需要考慮到(dao)許(xu)多因素，包括(kuo)涂(tu)(tu)層(ceng)的類型、基體材料、涂(tu)(tu)層(ceng)厚度范圍(wei)、被測(ce)件的形狀和尺寸以(yi)及(ji)測(ce)量(liang)成本等。

涂層厚(hou)度測(ce)(ce)量(liang)一般有測(ce)(ce)量(liang)法(fa)(fa)，例如磁性測(ce)(ce)量(liang)、渦流(liu)測(ce)(ce)量(liang)、超(chao)聲(sheng)波測(ce)(ce)量(liang)以及(ji)千分尺測(ce)(ce)量(liang)等；此外還有破壞(huai)性的測(ce)(ce)量(liang)法(fa)(fa)，例如橫斷面測(ce)(ce)量(liang)法(fa)(fa)和重量(liang)分析(xi)法(fa)(fa)等。對于粉末和液體狀涂料，在其(qi)干(gan)燥(zao)固(gu)化前同(tong)樣可(ke)以采取一些(xie)方法(fa)(fa)對其(qi)薄膜(mo)厚(hou)度進行(xing)測(ce)(ce)量(liang)。下面我們就來盤點一下那些(xie)常(chang)用(yong)的測(ce)(ce)量(liang)儀器與方法(fa)(fa)。

一、渦流測厚儀

渦流測厚儀一般用于(yu)測量(liang)位于(yu)非(fei)鐵金(jin)屬基板上的絕緣涂層的厚度，該方法同(tong)樣屬于(yu)一種測量(liang)法。

該(gai)儀器使用能(neng)夠傳導高頻交流（1MHz以上）的(de)細線(xian)線(xian)圈在儀(yi)器探針的(de)表(biao)面產生交變磁(ci)(ci)場(chang)。當(dang)探針靠近(jin)導(dao)電表(biao)面時，交變磁(ci)(ci)場(chang)將在該表(biao)面上形成渦流(liu)。基體材料(liao)的(de)特(te)性以及探頭(tou)和基體的(de)距(ju)離(li)（也即是涂層厚度）會影響渦流(liu)的(de)大小。

該渦流又(you)會產生一(yi)種相對電磁(ci)場(chang)(chang)，該電磁(ci)場(chang)(chang)可(ke)由勵磁(ci)線圈或(huo)另一(yi)個相鄰的線圈感(gan)測出來(lai)。

渦流測厚(hou)儀外(wai)觀以及(ji)操作均類似于(yu)電磁感(gan)應測厚(hou)儀。這類儀器能夠測量(liang)非鐵(tie)金(jin)屬上的涂層厚(hou)度。

與電磁感應測厚儀一樣，其通常使(shi)用(yong)恒壓探頭并在LCD屏幕上(shang)顯示測(ce)量結果。此(ci)外，它們還可以選擇(ze)存儲測(ce)量結果或者(zhe)對讀(du)數(shu)進行即時(shi)分析并輸出到(dao)打印機(ji)或計(ji)算(suan)機(ji)進行下一步(bu)檢查。

測量偏(pian)差一(yi)般為±1％左右。測試(shi)(shi)對(dui)表面粗糙度(du)(du)、曲率、基(ji)底(di)厚度(du)(du)，金屬基(ji)底(di)材料的(de)類型以(yi)及(ji)其(qi)與(yu)邊緣的(de)距離較為敏感。測試(shi)(shi)方法可(ke)以(yi)參考(kao)ASTM B 244，ASTM D 7091以及ISO2360等標準(zhun)。

現在，許(xu)多測厚儀都(dou)將(jiang)電磁(ci)感應原理(li)和(he)渦流原理(li)結合到一(yi)個體(ti)系(xi)中。一(yi)些簡單的(de)測量任務(wu)可以(yi)根據需(xu)求自動從一(yi)種(zhong)操作原理(li)切換(huan)到另(ling)一(yi)種(zhong)原理(li)以(yi)測量大(da)多數金(jin)屬上的(de)涂層厚度。這(zhe)些整合體(ti)系(xi)已(yi)經受到了油(you)漆業(ye)和(he)粉末涂布(bu)業(ye)的(de)歡迎。

二、超聲波測厚儀

超聲波測厚儀中(zhong)所使(shi)用的超聲回波脈沖技術一般用于(yu)測量非金屬(shu)基體材料（例如塑料、木材等(deng)）表面上的涂層厚度，而且(qie)，該方法(fa)屬(shu)于(yu)一種測量方法(fa)，不會對測量樣品造成損(sun)壞(huai)。

該儀器(qi)的探頭(tou)包含一個超聲(sheng)波(bo)換能器(qi)，能夠發出脈沖(chong)并通過涂層。脈沖(chong)然(ran)后從基體材(cai)料(liao)反射回換能器(qi)并轉換為高(gao)頻電信號。通過對回波(bo)波(bo)形進(jin)行數字化分析，人們(men)可(ke)以知道涂層的厚度(du)。在某些情(qing)況下，利用(yong)該儀器(qi)還可(ke)以測量多層系統中(zhong)的某一單層厚度(du)。

該方法的測量標(biao)準偏差一般在±3%左右，測量方法(fa)可以參考ASTM D6132標(biao)準(zhun)。

三、千分尺測厚計

人們(men)有(you)時(shi)還會用千分尺來測量(liang)涂(tu)層的厚度。它們(men)具有(you)測量(liang)涂(tu)層/基(ji)體組合的(de)優(you)點(dian)，但缺點(dian)是需(xu)要接觸到基(ji)底面(mian)。

接觸涂(tu)層(ceng)的(de)(de)(de)上(shang)(shang)表(biao)面(mian)和基底的(de)(de)(de)下表(biao)面(mian)有時是(shi)困難(nan)的(de)(de)(de)，并(bing)且(qie)它們通常不能準(zhun)確測(ce)(ce)量(liang)出(chu)某些(xie)(xie)薄涂(tu)層(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)。因此，利用(yong)該(gai)方(fang)法進行(xing)兩(liang)次(ci)測(ce)(ce)量(liang)，一次(ci)是(shi)在(zai)含有涂(tu)層(ceng)的(de)(de)(de)表(biao)面(mian)上(shang)(shang)進行(xing)測(ce)(ce)量(liang)，另(ling)一次(ci)則是(shi)在(zai)沒(mei)有涂(tu)層(ceng)的(de)(de)(de)表(biao)面(mian)上(shang)(shang)進行(xing)測(ce)(ce)量(liang)。這兩(liang)個(ge)度(du)(du)(du)數的(de)(de)(de)差值(zhi)，也(ye)即是(shi)測(ce)(ce)量(liang)的(de)(de)(de)高度(du)(du)(du)差，就是(shi)該(gai)涂(tu)層(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)大小(xiao)。在(zai)一些(xie)(xie)粗糙表(biao)面(mian)上(shang)(shang)，該(gai)方(fang)法一般(ban)在(zai)高處測(ce)(ce)量(liang)涂(tu)層(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)(du)(du)。