人們通過測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)得到被(bei)(bei)測(ce)(ce)對(dui)象(xiang)的(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)結果(guo)，但因測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)不可避免地會有誤(wu)差，所以(yi)測(ce)(ce)得值(zhi)只能在一定程度上近似它(ta)的(de)真值(zhi)。測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)誤(wu)差愈(yu)小(xiao)，測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)準確(que)度愈(yu)高。依據不同的(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)參數和準確(que)度要(yao)求(qiu)，選擇不同的(de)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)(fa)。在很大程度上測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)(fa)決(jue)定了量(liang)(liang)(liang)具(ju)(ju)或計量(liang)(liang)(liang)儀(yi)器的(de)選擇。由(you)此，測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)過程中量(liang)(liang)(liang)具(ju)(ju)和計量(liang)(liang)(liang)儀(yi)器的(de)正確(que)選擇和使用、被(bei)(bei)測(ce)(ce)對(dui)象(xiang)的(de)結構特性、測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)定位方(fang)式、測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)環境條(tiao)件等都與(yu)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)準確(que)度有關。除測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方(fang)法(fa)(fa)、測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)儀(yi)器設備(bei)的(de)選擇外(wai)，還有如下主(zhu)要(yao)因素影響長度測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)準確(que)度。

一、接觸測(ce)量(liang)時接觸定位(wei)方式的選(xuan)擇(ze)

 接(jie)觸(chu)(chu)(chu)法測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)，不(bu)(bu)(bu)同的被測(ce)(ce)(ce)對象應(ying)選用(yong)不(bu)(bu)(bu)同的測(ce)(ce)(ce)頭(tou)或(huo)測(ce)(ce)(ce)帽(mao)。為減(jian)少(shao)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)方式不(bu)(bu)(bu)正確帶 來的測(ce)(ce)(ce)量(liang)不(bu)(bu)(bu)確定(ding)度，在(zai)(zai)選擇測(ce)(ce)(ce)量(liang)頭(tou)時(shi)，應(ying)盡可(ke)能使(shi)測(ce)(ce)(ce)量(liang)頭(tou)與被測(ce)(ce)(ce)件成點(dian)或(huo)線接(jie)觸(chu)(chu)(chu)。因此(ci)，平面(mian)(mian)形工(gong)(gong)件采用(yong)球面(mian)(mian)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)，圓柱(zhu)形工(gong)(gong)件釆用(yong)刀口或(huo)圓柱(zhu)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)，球面(mian)(mian)形工(gong)(gong)件采用(yong)平面(mian)(mian)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)。 因為測(ce)(ce)(ce)量(liang)力和(he)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)的形式不(bu)(bu)(bu)同，對接(jie)觸(chu)(chu)(chu)變形的影響(xiang)也不(bu)(bu)(bu)同，所(suo)以在(zai)(zai)高(gao)精度測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)，必須(xu)準確選擇測(ce)(ce)(ce)量(liang)力和(he)測(ce)(ce)(ce)頭(tou)工(gong)(gong)作面(mian)(mian)半(ban)徑，并(bing)在(zai)(zai)測(ce)(ce)(ce)量(liang)結果中進行接(jie)觸(chu)(chu)(chu)變形誤差修正。消除或(huo)減(jian)少(shao)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)變形誤差有幾種(zhong)途徑：

(1)在保證測(ce)量(liang)重復性要求的基礎(chu)上，盡量(liang)減小測(ce)量(liang)力。盡可能采用(yong)非接觸(chu)光學(xue)干涉法、光電(dian)瞄準裝置(zhi)或片簧結(jie)構裝置(zhi)。

(2)在比(bi)較法測(ce)量時，使(shi)測(ce)量力(li)保持恒定。用重錘形式比(bi)彈簧(huang)形式更優(you)越。

(3)尋(xun)找合(he)適的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)(liang)方法，使選擇的(de)(de)(de)標準(zhun)器(qi)材料(liao)(liao)與被測(ce)件相同，其材料(liao)(liao)的(de)(de)(de)彈性變(bian)形(xing)也相同，可消除或(huo)減少測(ce)量(liang)(liang)結(jie)果的(de)(de)(de)接(jie)觸變(bian)形(xing)誤差。

(4)工件裝夾(jia)固定(ding)時，盡量減少裝夾(jia)變形(xing)。

二、 溫(wen)度對測量結(jie)果的(de)影(ying)響(xiang)

溫度(du)(du)變(bian)化也是產生變(bian)形(xing)的(de)(de)(de)主要因素。量(liang)具(ju)、儀器(qi)和(he)工件(jian)在(zai)(zai)測(ce)(ce)(ce)量(liang)前必(bi)須(xu)有(you)一段時(shi)間在(zai)(zai)規 定(ding)的(de)(de)(de)溫度(du)(du)范(fan)圍內(nei)(nei)等溫。測(ce)(ce)(ce)量(liang)過程中環境溫度(du)(du)波動要小，必(bi)須(xu)恒定(ding)在(zai)(zai)規定(ding)的(de)(de)(de)范(fan)圍內(nei)(nei)；盡可能不直接用(yong)手接觸量(liang)具(ju)、儀器(qi)和(he)工件(jian)。在(zai)(zai)高(gao)精度(du)(du)測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)，還需將(jiang)人與儀器(qi)隔離。如接觸式干涉儀使用(yong)時(shi)，需用(yong)隔離屏將(jiang)人的(de)(de)(de)呼吸與儀器(qi)隔離，操作時(shi)帶手套，測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)用(yong)導熱系數(shu)低的(de)(de)(de)木(mu)夾子夾帶工件(jian)。對于高(gao)等級(ji)的(de)(de)(de)量(liang)塊、線(xian)紋(wen)尺除有(you)很高(gao)的(de)(de)(de)環境要求外(wai)還要對其溫度(du)(du)進(jin)行測(ce)(ce)(ce)量(liang)并加以修正。在(zai)(zai)比較測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)，由于標準(zhun)器(qi)的(de)(de)(de)溫度(du)(du)和(he)膨脹系數(shu)與被測(ce)(ce)(ce)件(jian)的(de)(de)(de)溫度(du)(du)和(he)膨脹系數(shu) 不一致引起的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)誤差為 

尺寸測(ce)量(liang)可隨溫(wen)度變化，形狀(zhuang)、位(wei)置(zhi)測(ce)量(liang)也是如(ru)此。例如(ru)，夏季平晶(jing)從室外進入實(shi)驗 室立即(ji)測(ce)量(liang)，平晶(jing)因(yin)受環境溫(wen)度影響，平晶(jing)的外表面收(shou)縮快(kuai)；而中央部位(wei)收(shou)縮較慢，使平晶(jing)的工作面變凸。

三(san)、    正確選擇測量基面

測(ce)量(liang)基(ji)面為測(ce)量(liang)基(ji)準(zhun)的表面，測(ce)量(liang)時要正確選擇(ze)被測(ce)件(jian)的一個合適的幾何(he)要素(點、 線(xian)或(huo)面)作為測(ce)量(liang)基(ji)準(zhun)。基(ji)面選擇(ze)時必須遵守基(ji)準(zhun)統一原(yuan)(yuan)則。但有時加工過程中由于種種原(yuan)(yuan)因使得工藝基(ji)準(zhun)不能和設(she)計基(ji)準(zhun)重合，而測(ce)量(liang)時難以選擇(ze)設(she)計基(ji)準(zhun)為測(ce)量(liang)基(ji)準(zhun)。其具體 遵守的原(yuan)(yuan)則如下：

(1)在(zai)工序間(jian)檢驗時，測量基(ji)面與工藝基(ji)面一致。

(2)在終結檢驗時，測量基面(mian)(mian)與裝配基面(mian)(mian)一致。

測量(liang)基(ji)(ji)面(mian)的更(geng)換，不(bu)免(mian)產生測量(liang)誤(wu)差(cha)。更(geng)換后測量(liang)基(ji)(ji)面(mian)稱之(zhi)為輔助基(ji)(ji)面(mian)，選擇原則 如下：

(1)形狀誤差(cha)較小和尺寸精(jing)度較高的加工面作輔助(zhu)基(ji)面。

(2)無(wu)合適的加(jia)工面(mian)，應事(shi)先加(jia)工輔助基面(mian)作(zuo)測量(liang)基面(mian)，以保證測量(liang)的穩定(ding)性(xing)。

(3)在(zai)被測參(can)數較(jiao)多的(de)情況下(xia)，應(ying)該在(zai)精(jing)度大致相同(tong)的(de)情況下(xia)，選擇各(ge)(ge)參(can)數之間關(guan)系 較(jiao)密(mi)切，便于控制各(ge)(ge)參(can)數的(de)這一(yi)加工面(mian)為輔助(zhu)基(ji)面(mian)。

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